大塚電子（蘇州）有限公司
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 使用了型高感度APD，感度提升及縮短測(cè)量時(shí)間 通過測(cè)量自動(dòng)溫度梯度空間，可分析出変性相轉(zhuǎn)移溫度 可測(cè)量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度 追加了大范圍的分...
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詳細(xì)摘要： ● 可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式● 可測(cè)量0.1μm單位● 具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量● 不論基材材質(zhì)、可測(cè)量其鍍膜
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品信息 特殊長(zhǎng)度 支持長(zhǎng)達(dá) 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測(cè)量 還支持有機(jī)EL和大型顯示器的光分布測(cè)量 可以自動(dòng)控制2軸測(cè)角儀測(cè)量每個(gè)角度的光譜分...
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詳細(xì)摘要： 本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測(cè)量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。...
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詳細(xì)摘要： 本公司的MCPD series，由于采用柔軟纖維的事，從In-Situ到內(nèi)聯(lián)各種各樣的地方和用途的編入成為可能。測(cè)量原理為分光干涉方式，在實(shí)現(xiàn)高測(cè)量再現(xiàn)性的同時(shí)...
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對(duì)策和粒子對(duì)策，可對(duì)應(yīng)液晶line...
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詳細(xì)摘要： ● nanoSAQLA是一臺(tái)通過動(dòng)態(tài)光散亂法（DLS法）測(cè)量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測(cè)定的新光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)...
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詳細(xì)摘要： 【ELSZneo使光散射的物性評(píng)價(jià)邁向新舞臺(tái)】ELSZneo是ELSZ series的機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potenti...
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詳細(xì)摘要： 采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商，提供多種支援 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量（已獲?。?實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量 不受偏差影響 可對(duì)應(yīng)寬幅樣...
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品信息 特 長(zhǎng) 薄膜到厚膜的測(cè)量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價(jià)光學(xué)薄膜量測(cè)儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機(jī)種90%的功能 無(wú)復(fù)雜...
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詳細(xì)摘要： MINUK可評(píng)價(jià)nｍ級(jí)的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測(cè)量。且無(wú)需對(duì)焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定...
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詳細(xì)摘要： 特點(diǎn)： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測(cè)量， 對(duì)應(yīng)CIE推薦的...
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