詳細摘要： ● 可攜帶至現(xiàn)場的手持式● 可測量0.1μm單位● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量● 不論基材材質(zhì)、可測量其鍍膜
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2026-06-10 在線留言大塚電子（蘇州）有限公司
大塚電子（蘇州）有限公司
詳細摘要： ● 可攜帶至現(xiàn)場的手持式● 可測量0.1μm單位● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量● 不論基材材質(zhì)、可測量其鍍膜
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詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特殊長度 支持長達 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測量 還支持有機EL和大型顯示器的光分布測量 可以自動控制2軸測角儀測量每個角度的光譜分...
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詳細摘要： 本公司的MCPD series，由于采用柔軟纖維的事，從In-Situ到內(nèi)聯(lián)各種各樣的地方和用途的編入成為可能。測量原理為分光干涉方式，在實現(xiàn)高測量再現(xiàn)性的同時...
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詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特 點 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策，可對應液晶line...
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詳細摘要： 采用線掃描方式檢測整面薄膜 硬件軟件均為創(chuàng)新設計 作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援 實現(xiàn)高精度測量（已獲?。?實現(xiàn)高速測量 不受偏差影響 可對應寬幅樣...
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詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特 長 薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學薄膜量測儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機種90%的功能 無復雜...
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詳細摘要： MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定...
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詳細摘要： 特點： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量， 對應CIE推薦的...
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2026-06-10 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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