產(chǎn)品展示
ZK2010特性阻抗測試儀
【簡單介紹】
【詳細說明】
TDR阻抗測試儀的詳細描述:
用途:特性阻抗測試系統(tǒng)是采用時域反射技術(shù)設(shè)計的,能夠批量化、自動化、快速、準確測試PCB跡線的特性阻抗,并提供測試波形分析、統(tǒng)計數(shù)據(jù)分析、自動記錄測試數(shù)據(jù)、自動出具檢測報告并打印等功能。適用于電路板制造廠商的研發(fā)、設(shè)計、生產(chǎn)及品管單位。為高頻線路板特性阻抗測試提供了一套快速、準確、標準和經(jīng)濟的解決方案。
特點:
1、批量化、自動化測試,操作簡單、測試快捷,適合PCB工廠快速測試。
2、Windows操作環(huán)境,友好的人機界面,自動出具測試結(jié)果。
3、提供單端和差分阻抗測試。
4、支持2通道、4通道及8通道測試。
5、快速定制測試任務及批量化、自動化測試功能。
6、集成測試文件編輯器,快速設(shè)置測試參數(shù)。
7、自動記錄測試數(shù)據(jù),生成報表并保存在磁盤上。
8、顯示測試波形、統(tǒng)計數(shù)據(jù)分析及測試結(jié)果。
9、打印測試報表、波形及測試結(jié)果。
10、符合IPC-TM-650和IPC2141標準。
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