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XTD鍍層測(cè)厚儀上照式X射線熒光光譜膜厚儀

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深圳市美程精密電子有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

測(cè)量面積：最小0.04mm2 鍍層分析：23層鍍層24種元素儀器特點(diǎn)：可變焦對(duì)焦儀器優(yōu)勢(shì)：同元素不同層分析 XTD系列測(cè)厚儀

詳細(xì)介紹

測(cè)量面積：最小0.04mm2
鍍層分析：23層鍍層24種元素
儀器特點(diǎn)：可變焦對(duì)焦
儀器優(yōu)勢(shì)：同元素不同層分析

XTD系列測(cè)厚儀，專業(yè)表面處理檢測(cè)解決方案：

XTD系列測(cè)厚儀，專用于檢測(cè)各種異形件，特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。

儀器優(yōu)點(diǎn)：

1. 分析精度高

2. 分析范圍廣

3. 微區(qū)定位準(zhǔn)

4. 操作簡(jiǎn)單快捷

5. 結(jié)果可靠精準(zhǔn)

6. 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

XYZ高精密移動(dòng)裝置：快速精準(zhǔn)定位，手/自動(dòng)（可選），自動(dòng)版可實(shí)現(xiàn)編程定位多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)試。

軟、硬件雙向操作：人性化設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)軟件，硬件雙向快捷操作。

變焦+對(duì)焦：配備高敏感鏡頭，實(shí)現(xiàn)無感對(duì)焦，可測(cè)各種異形件、超大工件。

性能優(yōu)勢(shì)：

1.的EFP算法：多層多元素、各種元素及有機(jī)物，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量。

2.上照式設(shè)計(jì)：實(shí)現(xiàn)可對(duì)超大工件進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測(cè)量。

3.自動(dòng)對(duì)焦：高低大小樣品可快速清晰對(duì)焦。

4.變焦裝置算法：可對(duì)90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測(cè)。

5.小面積測(cè)量：最小測(cè)量面積0.04mm2

6.大行程移動(dòng)平臺(tái)：手動(dòng)XY滑臺(tái)100*150mm，自動(dòng)XY平臺(tái)200*200mm.

結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)：

測(cè)厚儀獨(dú)特的光路交換裝置，讓X射線和可見光攝像同一垂直線，達(dá)到視覺與測(cè)試定位一體，且X光擴(kuò)散度??；與EFP軟件配合達(dá)到對(duì)焦、變焦雙焦功能，實(shí)現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測(cè)試；高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍，可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差，同時(shí)特征X射線可以穿透測(cè)試更厚的表層。

核心EFP算法：

專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上，計(jì)算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強(qiáng)效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法，結(jié)合的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標(biāo)樣來校正儀器因子，可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。

儀器型號(hào)對(duì)比：