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霍爾效應測試儀HMS-3000

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更新時間：2026-04-26 13:47:01瀏覽次數(shù)：70次

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蘇州上器試驗設備有限公司

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產(chǎn)品簡介

霍爾效應測試儀是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性的工具，用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等重要參數(shù)。HMS-3000霍爾效應測量系統(tǒng)主要由恒電流源、范德堡法則終端轉(zhuǎn)換器、低溫（77K)測量系統(tǒng)及磁場強度輸入系統(tǒng)組成，擁有研究半導體材料霍爾效應所有的部件和配置，是一套非常成熟的儀器系統(tǒng)。

詳細介紹

可靠的精度及重現(xiàn)性

恒電流源（1nA~20mA)采用六級電流范圍設置，將可以接收的誤差降到低點；范德堡法則轉(zhuǎn)換使用非接觸裝置有效降低儀器噪聲；軟硬件有針對性的設計，確保每個實驗數(shù)據(jù)均為多次測試的平均值，使儀器擁有非常好的數(shù)據(jù)重現(xiàn)性。

產(chǎn)品小型化及操作簡單化

小尺寸的磁場強度輸入系統(tǒng)使用永磁體和液氮低溫測量系統(tǒng)（77K),確保儀器操作非常簡單；兩種不同尺寸的傳統(tǒng)樣品板（20*20mm、5*5mm)及帶彈簧夾片的樣品板（SPCB),使得不同尺寸不同材料的薄膜樣品更容易測量，區(qū)別于傳統(tǒng)樣品板的彈簧夾片樣品板使得霍爾電極制作更方便且對樣品損傷更小。

I-V曲線及I-R曲線

I-V曲線及I-R曲線測量采用圖表的方式，測量探針四點（A、B、C、D)間電流－電壓及電流－電阻關系，并以此評判樣品的歐姆接觸好壞、了解樣品的基本的電學特性。

多樣的實驗結(jié)果

HMS系列儀器獲得多項霍爾效應測量系統(tǒng)、測量方法的，代表了霍爾效應測量的品質(zhì)及合理的產(chǎn)品價格，并為客戶所認可。

?體載流子濃度（Bulk CarrierConcentration)

?表面載流子濃度（Sheet Carrier Concentration)

?遷移率（Mobility)

?電阻率（Resistivity)

?霍爾系數(shù)（Hall Coefficient)

?磁致電阻（Magnetoresistance)

?電阻的縱橫比率（Vertical/Horizontal ratio of resistance)

項目	內(nèi)容
遷移率測量范圍	1 ~ 10⁷(cm²/Volt.sec)
載流子濃度測量范圍	10⁷ ~ 10²¹ (cm^-3)
電阻率測量范圍	10^-5to 10⁷ (Ohms.cm)
輸入電流	1nA-20mA
磁場強度	0.51±0.02T特斯拉
溫度	77300K
樣品測量板	PCB樣品板，55mm,2020mm