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產(chǎn)品型號2600B 系列 SMU

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深圳市順心科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

雙通道和單通道型號都緊密集成一個精密電源、真正電流源、數(shù)字萬用表和具有脈沖生成功能的電子負(fù)載。另外，TSP® 技術(shù)可運行完整測試程序，適用于自動化系統(tǒng)應(yīng)用，TSP-鏈路®技術(shù)允許菊花式鏈接最多 64 條通道，適用于大容量并行測試。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品特色

完整的生產(chǎn)測試，無需犧牲空間
滿足您的所有生產(chǎn)測試需求，在同一空間內(nèi)有兩條隔離的寬動態(tài)源和測量通道。每條 40 W 通道提供 6? 位精確分辨率源，在小于 100 µs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi)，測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
嵌入式腳本提供的生產(chǎn)吞吐量
測試腳本處理器 (TSP®) 技術(shù)可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測試程序，提供業(yè)界性能。
系統(tǒng)性能，無主機
TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機）。 <500 ns 時所有通道同時獨立受控。
適合生產(chǎn)的低電流性能
2635B 和 2636B SMU 在 100 pA 范圍內(nèi)提供 0.1 fA、10-16 分辨率，減少超低電平樣本檢定煩惱，確保生產(chǎn)成功。

規(guī)格參數(shù)

型號	通道	電流源/量程	電壓源/量程	測量分辨率（電流/電壓）	電源
2611B	1	10A	200V	100fA / 100nV	200 W
2601B	1	10A	40V	100fA / 100nV	200 W
2604B	2	10A	40V	100fA / 100nV	200 W
2614B	2	10A	200V	100fA / 100nV	200 W
2602B	2	10A	40V	100fA / 100nV	200 W
2612B	2	10A	200V	100fA / 100nV	200 W
2635B	1	10A	200V	0.1fA / 100nV	200 W
2634B	2	10A	200V	1fA / 100nV	200 W
2636B	2	10A	200V	0.1fA / 100nV	200 W

應(yīng)用領(lǐng)域

激光二極管 (VCSEL) 生產(chǎn)測試
適合激光二極管 (LD) 生產(chǎn)測試的業(yè)界直流測試系統(tǒng)，采用高速高精度 SMU 進行激光二極管模塊光電二極管電流的電流源和電壓-電流監(jiān)測。 SMU 是實惠的 LIV 儀器，系統(tǒng)同步和吞吐量高。
LED 簡化的 I/V 檢定
2600B 系列 SMU 是業(yè)界的儀器，用于 LED 直流檢定和生產(chǎn)測試。其可配置為源電流或電壓與 0.02% 精度的電壓和電流測量結(jié)合，滿足各種測試需求。此外，其測試腳本處理器 (TSP®) 技術(shù)還提供吞吐量優(yōu)勢。
IDDQ 測試與待機電流測試
Keithley 的 2636B/35B 型號采用業(yè)界低電流靈敏度，旨在滿足生產(chǎn)環(huán)境的吞吐量要求。其是 CMOS 集成電路和電子產(chǎn)品制造商測量靜態(tài)（待機）電流（又稱為漏電或 IDDQ）的理想之選，可檢查長時間使用可能導(dǎo)致故障的短路氧化柵極和其他缺陷。
高度同步、多針、多通道、少主機生產(chǎn)系統(tǒng)
Keithley 2600B 系列系統(tǒng) SourceMeter® SMU 儀器將堆架式儀器的可擴展性和靈活性與基于主機系統(tǒng)的集成和高吞吐量相結(jié)合，使用 TSP 和 TSP-鏈路技術(shù)減少制造活動和測試成本。

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深圳市順心科技有限公司

完整的生產(chǎn)測試，無需犧牲空間

滿足您的所有生產(chǎn)測試需求，在同一空間內(nèi)有兩條隔離的寬動態(tài)源和測量通道。每條 40 W 通道提供 6? 位精確分辨率源，在小于 100 µs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi)，測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

嵌入式腳本提供的生產(chǎn)吞吐量

測試腳本處理器 (TSP®) 技術(shù)可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測試程序，提供業(yè)界性能。

系統(tǒng)性能，無主機

TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機）。 <500 ns 時所有通道同時獨立受控。

適合生產(chǎn)的低電流性能

2635B 和 2636B SMU 在 100 pA 范圍內(nèi)提供 0.1 fA、10-16 分辨率，減少超低電平樣本檢定煩惱，確保生產(chǎn)成功。

激光二極管 (VCSEL) 生產(chǎn)測試

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完整的生產(chǎn)測試，無需犧牲空間

嵌入式腳本提供的生產(chǎn)吞吐量

測試腳本處理器 (TSP®) 技術(shù)可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測試程序，提供業(yè)界性能。

系統(tǒng)性能，無主機

TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機）。 <500 ns 時所有通道同時獨立受控。

適合生產(chǎn)的低電流性能

2635B 和 2636B SMU 在 100 pA 范圍內(nèi)提供 0.1 fA、10-16 分辨率，減少超低電平樣本檢定煩惱，確保生產(chǎn)成功。

激光二極管 (VCSEL) 生產(chǎn)測試

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IDDQ 測試與待機電流測試

高度同步、多針、多通道、少主機生產(chǎn)系統(tǒng)

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TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機）。 <500 ns 時所有通道同時獨立受控。

2635B 和 2636B SMU 在 100 pA 范圍內(nèi)提供 0.1 fA、10-16 分辨率，減少超低電平樣本檢定煩惱，確保生產(chǎn)成功。

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