快速溫度變化試驗機 15℃/min 濕熱環(huán)境模擬

一、產品概述：

該設備適用于學校，工廠，科研單位，實驗室、高校等單位，來檢測各種電子元氣件在高溫，低溫或高低溫交替環(huán)境下的各項性能指標、貯存和使用的適應性。

二、技術參數：

三、箱體結構：

l 箱體造型美觀大方，采用數控機床加工成型，并采用無反作用把手，操作簡便。

l 箱體內膽采用高級不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體采用冷軋鋼板靜電噴塑，增加了外觀質感和潔凈度。

l 大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且利用發(fā)熱體內嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。箱體左側配有測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。(孔徑或孔數須增加定貨時說明)。

l 機器底部采用高品質可固定式PU活動輪。

四、符合標準：

l GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗 A：低溫試驗方法。

l GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗 B：高溫試驗方法。

l GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗。

l GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗方法。

l GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。

l GB/T 2423.2-2008 試驗 B《高溫試驗方法》

l GB10586-89 低溫試驗箱技術條件

l GB/T10592-89 高低溫試驗箱技術條件

l GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件

l GB11158 高溫試驗箱技術條件

l GB2423.1-89 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 A：低溫試驗方法

l GB2423.2-89 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 A：高溫試驗方法

l IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法

l IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法

快速溫度變化試驗機 15℃/min 濕熱環(huán)境模擬