詳細摘要: 簡要描述:光譜橢偏儀為了獲得測量結(jié)果,在數(shù)據(jù)采集過程中沒有光學(xué)器件運動。步進掃描分析器(SSA)原理是SENresearch 4.0光譜橢偏儀的一個特性。通過創(chuàng)...
產(chǎn)品型號:所在地:更新時間:2025-01-01 在線留言印前設(shè)備 印刷機械 印后設(shè)備 裝訂設(shè)備 廣告設(shè)備 辦公設(shè)備 印刷機械配件 其它印刷相關(guān)器材 其它印刷設(shè)備
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詳細摘要: 簡要描述:光譜橢偏儀為了獲得測量結(jié)果,在數(shù)據(jù)采集過程中沒有光學(xué)器件運動。步進掃描分析器(SSA)原理是SENresearch 4.0光譜橢偏儀的一個特性。通過創(chuàng)...
產(chǎn)品型號:所在地:更新時間:2025-01-01 在線留言詳細摘要: 簡要描述:自動光譜橢偏儀SENDURO#174;所有的全自動光譜橢偏免除了用戶根據(jù)高度和傾斜度手動地對準樣品的麻煩,這對于高精度和可重復(fù)的光譜橢偏是必要的。
產(chǎn)品型號:所在地:更新時間:2025-01-01 在線留言詳細摘要: 簡要描述:紅外光譜橢偏儀SENDIRA利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶,可以分析薄膜的組成。此外,載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。
產(chǎn)品型號:所在地:更新時間:2025-01-01 在線留言詳細摘要: 簡要描述:低成本高效益的光譜橢偏儀SENpro覆蓋寬的光譜范圍,從190 nm(深紫外)到3500 nm(近紅外)。傅立葉紅外光譜儀FTIR提供了高光譜分辨率用...
產(chǎn)品型號:所在地:更新時間:2025-01-01 在線留言詳細摘要: 簡要描述:橢偏反射儀性能優(yōu)異的多角度手動角度計和角度精度*的激光橢偏儀允許測量單層薄膜和層疊膜的折射率、消光系數(shù)和膜厚。
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