序號

名稱

技術(shù)要求及說明

價格

1

總體

要求

本平臺適用于電子線路。測試技術(shù)導(dǎo)論、虛擬儀器技術(shù)、電子線路課程、自動化測試導(dǎo)論、集成電路設(shè)計基礎(chǔ)、集成電路測試基礎(chǔ)、集成電路測試導(dǎo)論、電路系統(tǒng)設(shè)計與開發(fā)實踐、半導(dǎo)體測試基礎(chǔ)教學(xué)、微電子實訓(xùn)及競賽等應(yīng)用場合。

本平臺虛擬儀器功能包括：數(shù)字存儲示波器、函數(shù)與任意波形發(fā)生器、邏輯分析儀、數(shù)字萬用表、程控電源、多功能數(shù)據(jù)記錄儀、場強儀、晶體管圖示儀、頻率特性分析儀和頻譜分析儀功能。

本平臺能完成集成電路設(shè)計、集成電路功能測試以及具有工業(yè)實際應(yīng)用的序列測試。

本平臺具有半導(dǎo)體晶片和芯片的電參數(shù)測試功能，能完成電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)的檢測。特別適合微電子封裝技術(shù)的教學(xué)和實訓(xùn)。

本平臺可以完成基于功能性電路的仿真、設(shè)計與測試

項目設(shè)計、基于分立元器件的序列測試項目設(shè)計、基于PCI的自動化測試項目設(shè)計。

本平臺可使學(xué)生掌握虛擬儀器系統(tǒng)的基本構(gòu)成及基本設(shè)計思想，學(xué)習(xí)應(yīng)用圖形化語言進行編程和設(shè)計，掌握LabVIEW軟件的應(yīng)用。以基于LabVIEW的虛擬儀器開發(fā)平臺為基礎(chǔ)，學(xué)習(xí)掌握LabVIEW編程環(huán)境、編程方法、數(shù)據(jù)采集、信號分析與處理等方面的內(nèi)容。同時在掌握基本理論知識和編程方法的基礎(chǔ)上，能夠從測量問題的本身出發(fā)，通過題目分析、電路組成等設(shè)計合理的測量方案，本平臺和相應(yīng)的硬件設(shè)施，解決實際的測量問題。培養(yǎng)學(xué)生自己動手組建自動測試系統(tǒng)的能力。

基本配置

價格電詢

2

主

實驗

箱

1.交流電源輸入：220V±10%50Hz；

2.工作環(huán)境溫度：-10℃～+40℃；

3.直流電源輸出：+3.3V、+5V、-5V、+12V、-12V；

4.實驗面包板尺寸：170*46mm；

5.DUT接口基座：2個；

6.BNC座：4個；

7.香蕉座：4個；

8.USB座：N+2；

9.實驗箱尺寸：520x330x140mm；

10.終端測試平臺：i5處理器，32G內(nèi)存，512固態(tài)快速存儲硬盤，23英寸顯示器。

3

虛擬

儀器

數(shù)字

存儲

示波

器

1.模擬帶寬：100MHz； 

2.通道數(shù)：4通道； 

3.實時采樣率：1GSa/s； 

4.存儲深度：64K； 

5.時基精度：±50ppm； 

6.時基范圍：2ns/div-1000s/div；

7.輸入阻抗：1MΩ，25pF ；

8.輸入耦合：AC/DC/GND；

9.輸入靈敏度范圍；2mV/div～10V/div； 

10.垂直分辨率：8Bit； 

11.垂直位移范圍；2mV～10V/div@x1probe；

20mV～100V/div@x10probe；

12.直流增益精度：±3%；

13.輸入電壓：400V (DC+AC Peak)；

14.觸發(fā)類型：單次、自動、正常；

15.觸發(fā)模式：邊沿、交替、脈寬、視頻；  

16.波形計算：+、-、x、÷、FFT、反向；

17.觸發(fā)源：CH1、CH2、CH3、CH4；

18.光標測量：Horizontal,Vertical,Cross；

19.FFT：Rectangular,Hanning,Hamming,Blackman Window；

20.自動測量：Vpp,Vamp,Vmax,Vmin,Vtop,Vmid,Vbase, Vavg,Vrms,Vcrms,Preshoot,Overshoot,Frequency, Period,Rise Time,Fall Time,Positive Width,Negative Width,Duty Cycle；

4

虛擬

儀器

函數(shù)

與

任意

波形

發(fā)生

器

1.通道數(shù)：1通道；

2.信號輸出頻率范圍：DC～25MHz； 

3.分辨率：0.1%Freq； 

4.波形幅度：±3.5Vmax； 

5.輸出阻抗：50 Ω； 

6.輸出電流：50mA Ipeak=50mA；  

7.DAC時鐘：2K～200MHz 可調(diào)； 

8.波形長度：2K； 

9.垂直分辨率：12位； 

10.波形穩(wěn)定度：<>； 

5

虛擬

儀器

邏輯

分析

儀

1.輸入信號通道數(shù)：16路；

2.采樣頻率：400MSa/s（4路），200MSa/s（8路），100MSa/s（16路）

3.連續(xù)可調(diào)的閾值電壓范圍 0.5V~+4.5V；

4.輸入電壓范圍：-30V~+30V；

5.輸入阻抗：250KΩ;

6.測量信號帶寬：50MHz；

7.存儲深度：16M；

8.狀態(tài)采樣時鐘：50MHz；

6

虛擬

儀器

數(shù)字

萬用

表

1.直流電壓測量可選檔位：60mV、600mV、6V、60V、800V；

2.交流電壓測量可選檔位：60mV、600mV、6V、60V、800V；

3.直流電流測量可選檔位：60mA、600mA、6V、10A；

4.直流電流測量可選檔位：60mA、600mA、6V、10A；

5.電阻測量可選檔位：600Ω、6K、60K、600K、6M、60M；

6.電容測量可選檔位：40nF、400nF、4uF、40uF、400uF；

7.二極管測試：支持；

8.通斷蜂鳴：支持；

9.自動量程：支持；

10.各路均帶電路保護；

7

虛擬

儀器

程控

可調(diào)

電源

1.電壓輸出通道：1路；

2.電壓輸出范圍： 0～+32V；

3.電流輸出范圍：0～1A Max；

4.電源調(diào)節(jié)方式：軟件動態(tài)程控輸出；

8

多

功能數(shù)據(jù)

記錄儀

1.模擬輸入通道：16路；

2.輸入通道分辨率：12位分辨率；

3.總采樣率：200kS/s；

4.FIFO: 4K；

5.模擬輸出通道: 4路；

6.輸出通道分辨率: 12位；

7.輸出通道更新率: 100 kS/s；

8.數(shù)字輸入通道:16路；

9.數(shù)字輸出通道:16路；

10.計數(shù)器：3個；

11.計數(shù)器精度：32位；

9

半

導(dǎo)體

晶片

與

芯片

探針

測試臺

1.移動方向：XYZ；

2.驅(qū)動方式：微分頭；

3.行程：±6.5mm Z軸:10mm；

4.刻度分辨率：0.01mm；

5.主要材質(zhì)：鋁合金；

6.隔振平板固有頻率：8-10Hz；

7.探針調(diào)節(jié)臺XYZ行程：13/13/13mm；

8.CCD成像顯微鏡：1200萬像素；

9.LED顯示屏：7寸；

10

標準

DUT

模塊

1. ADC/DAC測試

2.運算放大器測試

3.晶體管測試

4.無源器件測試

5.半導(dǎo)體芯片封裝測試

6.半導(dǎo)體晶元及成品測試

11

模擬

數(shù)字

綜合

電路

實驗

模塊

·基本放大器電路模塊

單級放大器、二級放大器、負反饋放大器、射極跟隨器、差動放大器、場效應(yīng)管放大器；

選擇配置

價格電詢

·集成運算放大器電路模塊

模擬運算電路、有源濾波器、電壓比較器；

·振蕩器電路模塊

文氏電橋振蕩器、LC振蕩器、方波三角波發(fā)生器；

·功率放大器電路與穩(wěn)壓電源電路模塊

集成功率放大器、OTL功率放大器、串聯(lián)型晶體管穩(wěn)壓電源、集成穩(wěn)壓器；

·基本邏輯電路模塊

邏輯門電路、組合邏輯電路、數(shù)據(jù)選擇器、譯碼器、字段譯碼器；

·綜合數(shù)字電路模塊

計數(shù)器、移位寄存器、555定時器；

·觸發(fā)器電路模塊

基本RS觸發(fā)器電路、JK觸發(fā)器電路、D觸發(fā)器電路；

12

信號

與

系統(tǒng)

實驗

模塊

·無源濾波器電路模塊

低通濾波器、高通濾波器、帶通濾波器、帯阻濾波器電路；

·有源濾波器電路模塊

低通濾波器、高通濾波器、帶通濾波器、帯阻濾波器電路；

·四階巴特沃斯濾波器電路模塊

測量觀察和分析濾波器特性；

·四階古比雪夫濾波器電路模塊

測量觀察和分析濾波器特性；

·信號分解電路模塊

分解為一、二、三、四、五次諧波；

·信號合成電路模塊

多次諧波合成方波；

·RC移相電路與補償分壓電路模塊

測量觀察和分析電路特性；

·零輸入響應(yīng)與零狀態(tài)響應(yīng)模塊

測量觀察和分析電路特性；

·二階網(wǎng)絡(luò)狀態(tài)軌跡的分析模塊

測量觀察和分析電路特性；

·一階、二階連續(xù)時間系統(tǒng)模塊

測量觀察和分析電路特性；

·階躍響應(yīng)與沖激響應(yīng)模塊

測量觀察和分析電路特性；

13

選配微

電子

實驗

測試模塊

·半導(dǎo)體電阻率及薄層電阻測試

·半導(dǎo)體霍爾系數(shù)和電導(dǎo)率測試

·硅光電池特性測試

·數(shù)字MOSIC功能和動態(tài)參數(shù)測試

·雙極型晶體管直流參數(shù)測試

·PN結(jié)正向壓降溫度特性測試