CTS-2009多通道TOFD超聲波檢測儀兼容歐盟EN12668-1:2010標(biāo)準(zhǔn)，國內(nèi)NB/T47013.10,DL/T330，GB/T 23902標(biāo)準(zhǔn)，能夠一次性掃查覆蓋200mm厚度焊縫，具備還原缺陷特征功能的合成孔徑聚焦（SAFT）技術(shù)，采用工業(yè)級TFT顯示屏，具有全WVGA分辨率（800×600），勝任在室外和陽光直射的環(huán)境下工作，支持全觸控操作，提高檢測效率。檢測儀一次性通過中國特種設(shè)備檢測研究院的檢測并獲得B級證書，在類似等效輸入噪聲、凈增益等14個(gè)TOFD檢測關(guān)鍵指標(biāo)中達(dá)到A類性能指標(biāo)要求。

“3+4+1"多通道設(shè)計(jì)：3個(gè)TOFD通道可一次覆蓋200mm厚度的焊縫檢測，傳統(tǒng)射線檢測的理想替代方案；4個(gè)常規(guī)通道可對焊縫的表面盲區(qū)和底面盲區(qū)全覆蓋檢測，3個(gè)TOFD通道和4個(gè)PE通道的探頭線由同一根電纜線引出；1個(gè)單通道作為單通道的TOFD檢測及常規(guī)超聲檢測復(fù)核。

方波激勵，超保真低噪聲前置放大技術(shù)，缺陷識別更清晰；配合本公司前置放大器CTS-8682，信噪比提高10dB左右。

獨(dú)特的通道間噪聲抑制技術(shù)，解決國內(nèi)儀器多通道間串?dāng)_問題。

滿足國內(nèi)TOFD標(biāo)準(zhǔn)NB/T47013.10、DL/T330、GB/T 23902，兼容EN12668-1標(biāo)準(zhǔn)。

8.4寸工業(yè)級TFT顯示屏（800×600），全觸控操作，提高您的檢測效率。

高達(dá)400MHz的A/D采樣頻率，高采樣深度。

一次性TOFD掃描長度達(dá)40m。

A掃描、B掃描、TOFD掃描等多種探傷功能。

豐富的數(shù)據(jù)接口，雙USB接口，LAN網(wǎng)絡(luò)接口，HDMI高清數(shù)字接口。

多種掃查器可選，為用戶定制專用掃查器,標(biāo)配掃查器為SCQtofd-3。

采用專用航空級定制數(shù)據(jù)電纜線，信號傳輸損耗小，柔韌性能特佳。

集成多種標(biāo)定功能：根據(jù)直通波和底波的深度校準(zhǔn)，根據(jù)直通波的零刻度校準(zhǔn)，根據(jù)底波的厚刻度線校準(zhǔn)；滿足各種條件下的圖像標(biāo)定。

集成多種圖像處理功能：合成孔徑聚焦（SAFT）技術(shù)、拉直、差分、對比度、放大等。

集成多種缺陷標(biāo)記功能：矩形模式、長度模式、高度模式、自由模式，滿足各類缺陷的標(biāo)記。

掃查圖像可以直接復(fù)制到粘貼板，在報(bào)告中直接粘貼；掃查圖像可另存為圖片，圖片的格式可選BMP/JPEG/TIFF/PNG/GIF；檢測參數(shù)及缺陷信息易于查看，內(nèi)嵌檢測報(bào)告模板，檢測報(bào)告模板可為用戶定制。

內(nèi)嵌曲面工件掃查的工藝參數(shù)計(jì)算工具，平板工件的多通道工藝參數(shù)計(jì)算工具，為用戶提供檢測工藝設(shè)計(jì)作參考。

離線分析軟件同時(shí)兼容CTS-1008plus及CTS-2009兩款儀器。

存儲容量達(dá)16G（可外接擴(kuò)展到32G），存儲長度可達(dá)5000m以上（掃查精度）；全天候探傷數(shù)據(jù)記錄。

便攜式設(shè)計(jì)，重量僅3.0kg（含電池），便于攜帶。

大容量鋰電池，可連續(xù)工作6小時(shí)，配備兩塊電池可滿足一天的工作量。

一 功能*的離線分析軟件

1、主分析軟件

快捷的文件打開模式。

多種深度校準(zhǔn)方式選擇。

拉直、差分、對比度、放大、合成孔徑聚焦（SAFT）、曲線擬合等多種圖像處理方法。通過鼠標(biāo)滾輪可連續(xù)調(diào)節(jié)對比度及SAFT窗口，實(shí)時(shí)動態(tài)更新圖像。

多種缺陷標(biāo)記方式，矩形、長度、高度、自由模式可選。

內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)檢測報(bào)告模板，可為用戶定制專用檢測報(bào)告格式。

原始圖像與SAFT圖像同步顯示，缺陷測量評定方便快捷。

圖像可復(fù)制，可另存為各種格式圖片文件，出報(bào)告簡單輕松。

內(nèi)嵌曲面工件檢測工藝計(jì)算及多通道檢測工藝計(jì)算工具。

2、曲面工件檢測工藝計(jì)算

提供凹面及凸面工件檢測工藝計(jì)算，快捷得出弧長、PCS、弦高等工藝參數(shù)，弧長用于調(diào)節(jié)探頭間距，弦高用于修正缺陷高度。

3、多通道檢測工藝計(jì)算

支持國內(nèi)NB/T47013及DL/T330兩種標(biāo)準(zhǔn)，可同時(shí)設(shè)計(jì)5個(gè)通道的檢測參數(shù)，滿足400mm厚度焊縫的檢測工藝?？煽旖萦?jì)算TOFD常用的工藝參數(shù)如探頭中心間距（PCS）、深度覆蓋范圍、底面覆蓋、時(shí)差周期、深度分辨力、掃查面盲區(qū)、中心底面盲區(qū)、軸偏離底面盲區(qū)。

二、 配套探頭及楔塊

系列探頭的頻率范圍為1MHz至10MHz，晶片尺寸范圍為3mm至20mm，系列楔塊的角度為45°、60°及70°，滿足標(biāo)準(zhǔn)推薦使用的要求，覆蓋400mm厚度的檢測要求。探頭接口規(guī)格為L5或C5接口。

探頭規(guī)格：

型號說明：以10N3-T1為例，10表示探頭頻率，N表示晶片材料代號，3表示晶片直徑，T1表示探頭外殼型號。

楔塊規(guī)格：

型號說明：以ST1-45L為例，ST1表示楔塊型號，匹配的探頭外殼型號為T1，45表示鋼中折射角為45°，L表示檢測波形為縱波。

1、符合國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用

GB/T 23902-2009 無損檢測 超聲檢測 超聲衍射聲時(shí)技術(shù)檢測和評價(jià)方法 DL/T 330-2010 水電水利工程金屬結(jié)構(gòu)及設(shè)備焊接接頭衍射時(shí)差法超聲檢測NB/T47013.10-2010(JB/T 4730.10) 承壓設(shè)備無損檢測 第10部分：衍射時(shí)差法超聲檢測

2、符合國外標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用

歐盟：

BS 7706-1993 Guide to Calibration and setting-up of the Ultrasonic Time of Flight diffraction (TOFD) technique for defect detection, location and sizing of flaws ENV583-6-2000 Time-of-flight diffraction technique as a method for detection and sizing of discontinuities

DD CEN TS 14751-2004 Welding Use of time of flight diffraction technique (TOFD) for examination of welds

NEN1822 Acceptance criteria for the Time of Flight Diffraction inspection technique BS EN 15617-2009 Non-destructive testing of welds Time of flight diffraction technique (TOFD) Acceptance levels

美國：

ASTM E2373-2009 Standard Practice for Use of the Ultrasonic Time of Flight Diffraction (TOFD) Technique

ASME Code Case 2235-9 Use of Ultrasonic Examination in Lieu of Radiography 2010 ASME Boiler and Pressure Vessel Code V Nondestructive Examination AWS D1.1/D1.1M:2010 Structural Welding Code-Steel

日本：

NDIS2423-2001 ＴＯＦＤ法によるきず高さ測定方法

國際：

ISO 10863-2011 Non-destructive testing of welds - Ultrasonic testing - Use of time-of-flight diffraction technique (TOFD)

ISO 15626-2011 Non-destructive testing of welds - Time-of-flight diffraction technique (TOFD) - Acceptance levels

ISO 16828-2012 Non-destructive testing - Ultrasonic testing - Time-of-flight diffraction technique as a method for detection and sizing of discontinuities