詳細(xì)摘要： 超小版探針臺(tái)外配減震，內(nèi)腔尺寸137X57X21mm，溫控范圍-196℃-350℃，可透光進(jìn)行透射光譜測試
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：鄭州市更新時(shí)間：2026-05-18 在線留言印前設(shè)備 印刷機(jī)械 印后設(shè)備 裝訂設(shè)備 廣告設(shè)備 辦公設(shè)備 印刷機(jī)械配件 其它印刷相關(guān)器材 其它印刷設(shè)備
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詳細(xì)摘要： 超小版探針臺(tái)外配減震，內(nèi)腔尺寸137X57X21mm，溫控范圍-196℃-350℃，可透光進(jìn)行透射光譜測試
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詳細(xì)摘要： 精密氣震平臺(tái)配真空高低溫探針臺(tái)，不銹鋼腔體，-196℃至350℃溫控，探針尖10μm，光學(xué)隔振平臺(tái)由鋼質(zhì)蜂巢內(nèi)核、頂板及底板組成，在降低重量的前提下提供了足夠的...
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詳細(xì)摘要： 高溫真空腔光學(xué)測試KT-Z4019MRL4T，300X300X170（mm） 氣浮隔振+阻尼隔振+橡膠減震底腳，-196℃至350℃微型高低溫探針臺(tái)，小巧輕便，...
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詳細(xì)摘要： Mini真空探針臺(tái)KT-0904T是一款普通型無高溫低溫系統(tǒng)真空探針臺(tái)，尺寸300mmX260mm，輕便小喬，功能齊全?？蓱?yīng)用于導(dǎo)體/微電子，電子，機(jī)電，物理，...
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詳細(xì)摘要： 真空光電探針臺(tái) 主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件...
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詳細(xì)摘要： 真空高低溫探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件...
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詳細(xì)摘要： 半導(dǎo)體行業(yè)真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間...
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詳細(xì)摘要： 微型真空探針冷熱臺(tái)探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)...
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詳細(xì)摘要： 測試夾具要求：可實(shí)現(xiàn)XYZ移動(dòng)；高低溫探針臺(tái)的詳細(xì)介紹測試腔：同時(shí)滿足靜態(tài)/動(dòng)態(tài)測試，304不銹鋼材質(zhì)，可在紫外燈下保證氣密性測試；測試樣品數(shù)：同時(shí)測試8個(gè)樣品...
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詳細(xì)摘要： 高溫35-350℃真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減...
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詳細(xì)摘要： 低溫-196-350℃真空探針臺(tái) 鄭科探廠家主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量...
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詳細(xì)摘要： 微型真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制...
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詳細(xì)摘要： 真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工...
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詳細(xì)摘要： KT-Z1604T探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)光電流基礎(chǔ)測試探針臺(tái)廠家直供，旨在...
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詳細(xì)摘要： 鄭科探 高低溫真空探針臺(tái) KT-Z165M4RT精巧型真空腔體測試腔主要用于氣體敏感材料或其他對(duì)環(huán)境敏感性材料中的電信號(hào)測試。測試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺(tái)，...
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詳細(xì)摘要： KT-Z1604T型號(hào)真空探針臺(tái) 冷熱型 鄭科探廠家應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保...
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詳細(xì)摘要： 非磁性霍爾效應(yīng)光電真空探針臺(tái) 國產(chǎn)真空低溫探針臺(tái),可定低溫制探針臺(tái)系統(tǒng)，整套系統(tǒng)包括探針臺(tái)真空腔主體、鐵制抗震支架、進(jìn)口分子泵機(jī)組、視頻顯微鏡、探針、智能溫控儀...
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詳細(xì)摘要： 高溫1000度熱臺(tái),1000度探針臺(tái)尺寸小、重量輕，具備變溫測試及真空測試功能，適用于科研工作，也適用于與其他儀器聯(lián)用，是一款非常有特點(diǎn)的微探針系統(tǒng)。
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詳細(xì)摘要： 真空探針臺(tái) 冷熱型鄭科探 應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路，低溫下電解液的變化，拉曼或者xrd儀器，以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量...
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詳細(xì)摘要： 半導(dǎo)體/集成電路/微型真空探針臺(tái) KT-Z165M4LT精巧型真空腔體測試腔主要用于氣體敏感材料或其他對(duì)環(huán)境敏感性材料中的電信號(hào)測試。測試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱...
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