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φ200mm*40mm標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)平面平晶（1級(jí)/2級(jí)、單/雙平面）

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φ200mm*40mm標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)平面平晶（1級(jí)/2級(jí)、單/雙平面）產(chǎn)品簡(jiǎn)介Productintroduction光學(xué)測(cè)量平面是表面粗糙度數(shù)值和平面度誤差都很小的玻璃平面，它能夠產(chǎn)生光波干涉條紋

詳細(xì)介紹

φ200mm*40mm標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)平面平晶（1級(jí)/2級(jí)、單/雙平面）

產(chǎn)品簡(jiǎn)介 Product introduction

光學(xué)測(cè)量平面是表面粗糙度數(shù)值和平面度誤差都很小的玻璃平面，它能夠產(chǎn)生光波干涉條紋。平晶是具有一個(gè)（或兩個(gè)）光學(xué)測(cè)量平面的正圓柱形或長(zhǎng)方形的量規(guī)；一般用K9光學(xué)玻璃或石英玻璃制造。

光學(xué)平晶是由玻璃或水晶制成，用來檢查光整鏡面的平面度。平面平晶的一個(gè)面是非常光整的鏡面，把它與加工鏡面相接觸，就會(huì)產(chǎn)生干涉條紋，通過對(duì)此干涉條文的測(cè)量，可以求得工件被加工鏡面的平面度。適用于塊規(guī)、千分尺、塞尺等量具的測(cè)量面的平面度檢測(cè)。

常用的平晶有平面平晶、長(zhǎng)平晶和平行平晶。

長(zhǎng)平晶主要用于以等傾干涉法檢定研磨平尺的平面度。

平面平晶用于測(cè)量高光潔表面的平面度誤差，平面平晶是用于以干涉法測(cè)量塊規(guī)，以及檢驗(yàn)塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面測(cè)量?jī)x器及測(cè)量工具量面的研合性和平面度的工具。圖1a為用平面平晶檢驗(yàn)量塊測(cè)量面的平面度誤差。

圓柱形平面平晶的直徑通常為 45～150毫米。其光學(xué)測(cè)量平面的平面度誤差為：1級(jí)精度的為0.03～0.05微米；2級(jí)精度的為0.1微米。常見的長(zhǎng)方形平面平晶的有效長(zhǎng)度一般為200毫米。

平行平晶的兩個(gè)光學(xué)測(cè)量平面是相互平行的，用于測(cè)量?jī)筛吖鉂嵄砻娴?strong>平行度誤差，例如千分尺兩測(cè)量面的平行度誤差（圖1b）。與平面平晶相似，把它與加工鏡面相接觸，就會(huì)產(chǎn)生干涉條紋，通過對(duì)此干涉條文的測(cè)量，可以求得工件被加工鏡面的平面度和平行度。平行平晶的兩面均為高精度的平整鏡面，且相互間的平行度很高，適用于檢測(cè)各種計(jì)量器具的測(cè)量工作面的平面度及平行度。

應(yīng)用范圍 Applications

平面平晶是用于以干涉法測(cè)量塊規(guī)，以及檢驗(yàn)塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面、測(cè)量?jī)x器及測(cè)量工具量面的研合性和平面度的常用工具。

平行平晶的兩個(gè)光學(xué)測(cè)量平面是相互平行的，用于測(cè)量?jī)筛吖鉂嵄砻娴钠叫卸日`差。

適用于光學(xué)加工廠、廠礦企業(yè)計(jì)量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)使用，也適用于高等院校、科學(xué)研究等單位做平面度等檢測(cè)。

測(cè)量方法 Working principle

平晶是利用光波干涉現(xiàn)象測(cè)量平面度誤差的，故其測(cè)量方法稱為平晶干涉法,也稱技術(shù)光波干涉法。測(cè)量時(shí),把平晶放在被測(cè)表面上,且與被測(cè)表面形成一個(gè)很小的楔角 θ，以單色光源照射時(shí)會(huì)產(chǎn)生干涉條紋。干涉條紋的位置與光線的入射角有關(guān)。如入射光線垂直于被測(cè)表面，且平晶與被測(cè)表面間的間隙很小,則由平晶測(cè)量面P反射的光線與被測(cè)表面反射的光線在測(cè)量面 P發(fā)生干涉而出現(xiàn)明或暗的干涉條紋。若在白光下，則出現(xiàn)彩色干涉條紋。如干涉條紋平直，相互平行,且分布均勻,則表示被測(cè)表面的平面度很好；如干涉條紋彎曲，則表示平面度不好。

其誤差值為f= (v/ω)×(λ/2)；

λ為光波波長(zhǎng)，白光的平均波長(zhǎng)為0.58μm,ν為干涉帶彎曲量，ω為干涉帶間距。

技術(shù)指標(biāo) Technical indicators

1、外形尺寸：

類型	*直徑厚度（mm）**		精度	備注
長(zhǎng)平晶	2104025
	3104025
平行平晶	組I	0-25mm	0.6um	4塊/組
	組II	25-50mm	0.6um	4塊/組
	組III	50-75mm	0.8um	4塊/組
	組IV	75-100mm	1.0um	4塊/組
	● 平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度。 ● 平行平晶具有高精度的平面性和平行性。 ● 平行平晶用于干涉法測(cè)量檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)、千分表和千分尺卡規(guī)等量具測(cè)量面的平面度和兩相對(duì)測(cè)量的平行度。 ● 測(cè)量準(zhǔn)確度：按《JJG28-2019平晶》標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行； ● 平行平晶共分四個(gè)系列，每個(gè)系列各分六組，每組四塊。 ● 測(cè)量面上平面度偏差：<0.1μm； ● 平面度局部偏差：　 >0.03μm； ● 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：GB903無色光學(xué)玻璃 ● 測(cè)量面平行度誤差：組Ⅰ系列（0-25mm）允許誤差值：0.6μm；組Ⅱ系列（25-50mm）允許誤差值：0.6μm；組Ⅲ系列（50-75mm）允許誤差值：0.8μm；組Ⅳ系列（75-100mm）允許誤差值：1.0μm； ● 平晶必須放置在(20士5)℃和濕度不大于80 % RH的檢定室內(nèi)進(jìn)行等溫，等溫時(shí)間不少于8h。
平面平晶	Φ30*15		1級(jí)或2級(jí)	單平面平晶/雙平面平晶
	Φ45*15
	Φ60*20
	Φ80*20
	Φ100*25
	Φ150*30
	Φ200*40
	Φ250*45
	Φ300*45
	Φ400*45
	Φ500*50
	Φ600*50
	1、平面平晶制成兩種精度： 1級(jí) 和 2級(jí)； 2、平面平晶工作面的平面度偏差允許值為：直徑30~60mm 1級(jí)平晶 0.03μm；直徑30~60mm 2級(jí)平晶 0.1 μm；直徑80~150mm 1級(jí)平晶 0.05μm；直徑80~150mm 2級(jí)平晶 0.1 μm；直徑200~300mm 1級(jí)平晶 0.06μm；直徑200~300mm 2級(jí)平晶 0.1μm；直徑300~600mm 1級(jí)平晶 0.08μm；直徑300~600mm 2級(jí)平晶 0.1μm；（直徑300mm~600mm的平晶平面度誤差均可以做到0.03μm 達(dá)到國(guó)際優(yōu)秀水平）更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值，根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。 3、平面平晶工作面的局部偏差允許值為： 0.03μm 4、平面平晶測(cè)量工作應(yīng)在室溫2 0℃±3℃條件下保持?jǐn)?shù)小時(shí)后進(jìn)行。 5、平行度誤差：Ⅰ級(jí) 0.6μm 6、平晶的材料：光學(xué)K9玻璃；檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) （GB 903-1987 無色光學(xué)玻璃） 7、平晶必須放置在(20士5)℃和濕度不大于80 % RH的檢定室內(nèi)進(jìn)行等溫，等溫時(shí)間不少于8h 注：可以定做正方形、長(zhǎng)方形、環(huán)形平面平晶，可以定做二等平面平晶，標(biāo)準(zhǔn)樣板。可以帶出報(bào)告，可以定做材質(zhì)為石英平面平晶。

附：平行平晶尺寸表：

組號(hào)	0－25	25－50	50－75	75－100
1	15.00，15.12 15.25，15.39	40.00，40.12 40.25，40.37	65.00，65.12 65.25，65.37	90.00，90.12 90.25，90.37
2	15.12，15.25 15.37，15.50	40.12，40.25 40.37，40.50	65.12，65.25 65.37，65.50	90.12，90.25 90.37，90.50
3	15.25，15.37 15.50，15.62	40.25，40.37 40.50，40.62	65.25，65.37 65.50，65.62	90.25，90.37 90.50，90.62
4	15.37，15.50 15.62，15.75	40.37，40.50 40.62，40.75	65.37，65.50 65.62，65.75	90.37，90.50 90.62，90.75
5	15.50，15.62 15.75，15.87	40.50，40.62 40.75，40.87	65.50，65.62 65.75，65.87	90.50，90.62 90.75，90.87
6	15.62，15.75 15.87，16.00	40.62，40.75 40.87，41.00	65.62，65.75 65.87，66.00	90.62，90.75 90.87，91.00

鈉光燈-高頻鈉光燈-平晶納光燈箱

一、用途：

高精度鈉光燈箱是光學(xué)儀器理想的單色光源。主要和平面平晶配套，用于以干涉法測(cè)量塊規(guī)，以及檢驗(yàn)塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面、測(cè)量?jī)x 器及測(cè)量工具量面的研合性和平面度適用于光學(xué)加工廠、廠礦企業(yè)計(jì)量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)使用，也適用于高等院校、科學(xué)研究等單位做平面度等檢測(cè)。

二、主要技術(shù)特點(diǎn)：

1、高精度鈉光燈箱是由特種的抗鈉玻璃吹成管膽，管內(nèi)充有金屬鈉，外面封接玻璃外殼而成。點(diǎn)燃后能輻射比較強(qiáng)5890A 5896A鈉譜線。具有適應(yīng)范圍廣、使用壽命長(zhǎng)、不受環(huán)境溫度影響、燈光穩(wěn)定無頻閃的特點(diǎn)，可防止低頻燈光源對(duì)人眼的傷害。

2、發(fā)光管它的發(fā)光效率基本不受環(huán)境溫度的影響。其輻射光譜純正、穩(wěn)定、無雜散光。其發(fā)光波長(zhǎng)透霧性強(qiáng)，在低功率電光源產(chǎn)品中光效較高，是光學(xué)儀器中單色光源理想的選擇。

3、燈具采用高品質(zhì)防火、阻燃、環(huán)保進(jìn)口塑料，緊固件采用材料增強(qiáng)安全性，抗振性。

4、根據(jù)光源的特性，燈具反射器采用抗紫外線噴塑增強(qiáng)表面抗腐蝕性。全密封防塵、防水、防眩光設(shè)計(jì)。

5、燈具檢測(cè)平臺(tái)采用特殊阻尼材料，的表面噴涂工藝精工制作，增強(qiáng)對(duì)被測(cè)工件的保護(hù)和保證檢測(cè)的安全穩(wěn)定。

6、檢測(cè)平晶范圍直徑300mm（范圍不夠可以定做更大）

7、工作電壓：15+5 功率：20 W 工作電流：1-1.3A