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日本NFLCR測(cè)試儀ZM2371

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日本NFLCR測(cè)試儀ZM2371

日本NF/ZM2371數(shù)字電橋由啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司*供應(yīng)日本NF/ZM2371數(shù)字電橋

啟航檢測(cè)科技提供ZM2371維修、ZM2371說明書、ZM2371維修中心、ZM2371校準(zhǔn)報(bào)告、ZM2371計(jì)量證書、ZM2371視頻教學(xué)、ZM2371電池、ZM2371充電器等等

ZM2371/ZM2372 附件
? 電源線組件 (3極, 2m)	1
? 使用說明書	1
? CD (應(yīng)用軟件, LabVIEW驅(qū)動(dòng), 樣例程序)	1

ZM2376 附件
? 電源線組件 (3極, 2m)	1
? CD (應(yīng)用軟件, 樣例程序, IV測(cè)量儀驅(qū)動(dòng))	1

實(shí)現(xiàn)快速、高精度的穩(wěn)定測(cè)量
LCR測(cè)量儀系列

滿足研究需求、生產(chǎn)線需求

型號(hào)	品名
ZM2371	基本精度 0.08％，頻率范圍 1mHz～100kHz , 測(cè)量速度 *快2ms
ZM2372	基本精度 0.08％，頻率范圍 1mHz～100kHz , 測(cè)量速度 *快2ms， 4端子的接觸檢查功能，處理機(jī)接口
ZM2376	基本精度 0.08％，頻率范圍 1mHz～5.5MHz , 測(cè)量速度 *快2ms，接觸檢查、低容量檢查

測(cè)量范圍覆蓋從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz高頻領(lǐng)域的NF LCR 測(cè)量儀ZM系列
實(shí)現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測(cè)量，可對(duì)應(yīng)從材料研究到零部件生產(chǎn)線等的各種用途

偏差小的高再現(xiàn)性測(cè)量示例

按照以下條件使用ZM2372和ZM2376，對(duì)1nF的電容反復(fù)測(cè)量200次后得到的結(jié)果。使用ZM2376，測(cè)量的再現(xiàn)性得到了進(jìn)一步提高。

	測(cè)量時(shí)間：5ms 測(cè)量頻率：100kHz 測(cè)量信號(hào)電平：1V

對(duì)應(yīng)快速，高精度且廣范圍的測(cè)量

寬頻測(cè)量范圍和高分辨率設(shè)定

ZM2371與ZM2372覆蓋了從1 mHz到100 kHz的測(cè)量頻率范圍，并擁有5位數(shù)的分辨率。ZM2376則覆蓋了從1 mHz到5.5 MHz的測(cè)量頻率范圍，并擁有6位數(shù)的分辨率。該產(chǎn)品不但適用于一般電子產(chǎn)品的測(cè)量，還可以被應(yīng)用于電池或其他材料的阻抗特性評(píng)估。

高重復(fù)性的測(cè)量結(jié)果


該產(chǎn)品的測(cè)試結(jié)果為在同樣的測(cè)試條件下，對(duì)相同的測(cè)試對(duì)象測(cè)試200次的結(jié)果。ZM2372的測(cè)試結(jié)果偏差大概在0.01%以下，而ZM2376則更加*。高重復(fù)性的測(cè)量結(jié)果，對(duì)于阻抗測(cè)量儀來說是十分重要的。

測(cè)量1 nF的電容
測(cè)量條件 (時(shí)間: 5 ms, 頻率: 100 kHz, 信號(hào)水平: 1 V) 200次測(cè)量結(jié)果的偏差

針對(duì)放電的保護(hù)功能

在使用通用的測(cè)量儀器時(shí)，儲(chǔ)存了電荷的電解電容器一旦被連接則會(huì)出現(xiàn)放電，而輸入電路就很可能會(huì)被損壞。ZM系列針對(duì)放電的保護(hù)功能，可以保護(hù)輸入電路不被此能量（*達(dá)4J）損壞。以在測(cè)量中若不小心連接上儲(chǔ)存了電荷的部件后，可以防止事故的發(fā)生。

廣域的測(cè)量電平和ALC功能

對(duì)10mVrms～5Vrms/1μArms～200mArms的測(cè)量信號(hào)電平可進(jìn)行3位數(shù)分辨率的設(shè)置。另外，利用ALC（自動(dòng)電平控制）功能可以設(shè)置定電壓/定電流驅(qū)動(dòng)，因此可用考慮到試樣電壓/電流依賴性的穩(wěn)定驅(qū)動(dòng)信號(hào)來驅(qū)動(dòng)，可實(shí)現(xiàn)高再現(xiàn)性的測(cè)量。

快速測(cè)量

測(cè)量時(shí)間可以在RAP (Rapid)，F(xiàn)AST，MED (Medium)，SLOW，VSLO (Very Slow) 這5種等級(jí)切換。選擇RAP，可以實(shí)現(xiàn)2ms (1kHz/1MHz)、10ms (120Hz) 的快速測(cè)量?？焖?、高精度的LCR測(cè)量儀有助于提高生產(chǎn)線及自動(dòng)檢查裝置的測(cè)量效率。

高精度

實(shí)現(xiàn)了基本精度0.08%、顯示分辨率*多6位數(shù)的高精度測(cè)量。值得信賴的測(cè)量在從*端器件的開發(fā)到檢查線零部件分選，對(duì)提高產(chǎn)品性能和品質(zhì)的。

DC偏置電壓

ZM2371與ZM2372的內(nèi)置DC偏置電源為0~+2.5 V，ZM2376為0~+5 V。這一功能使得測(cè)量電解電容等具有極性元件成為了可能。使用ZM2376,可以以將電池的直流電壓相抵消的方式，測(cè)量阻抗。
另外，針對(duì)更大的DC電壓，還可以選購DC偏置適配器。使用外接DC電源，*達(dá)±40 V的DC偏置電壓可以被施加到被測(cè)物體上，以還可以測(cè)量大容量片式多層陶瓷電容的依賴性等。

直流電阻 (DCR) 測(cè)量

可測(cè)量線圈及變壓器的卷線電阻的直流電阻?？梢酝瑫r(shí)在主參數(shù)中顯示電感，在副參數(shù)中顯示直流電阻的測(cè)量值。

面向產(chǎn)線的功能也很充實(shí)！

接觸檢查功能

ZM2372

4端子接觸檢查

為了防止因測(cè)量先端部與零部件間接觸不良造成的誤測(cè)量或錯(cuò)誤分選，ZM2372采用4個(gè)測(cè)量端子來進(jìn)行接觸檢查判斷，由此排除不良產(chǎn)品。
（進(jìn)行接觸檢查的額外時(shí)間 4ms)

	步驟1: 檢查點(diǎn)線之間是否接通（接觸檢查）

	接觸不良時(shí)做出不良判定

	步驟2: 步驟1的接觸檢查后，進(jìn)行點(diǎn)線間測(cè)量（主測(cè)量）

ZM2376

接觸檢查、低容量檢查

檢測(cè)異常的低容量及電壓、電流，無需額外時(shí)間就能檢測(cè)出不良接觸。

觸發(fā)電路同步驅(qū)動(dòng)

可以只在接觸期間驅(qū)動(dòng)試樣的功能。
可以降低在測(cè)量大容量電容時(shí)，由于安裝拆卸試樣造成的接觸損傷。在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測(cè)量履歷特性的試樣，測(cè)量值會(huì)出現(xiàn)較大的誤差。如使用觸發(fā)電路同步驅(qū)動(dòng)的話，加在各試樣上的驅(qū)動(dòng)信號(hào)和取得信號(hào)的時(shí)間以及相位關(guān)系都是固定的，可以抑制測(cè)量值的誤差，大幅縮短測(cè)量時(shí)間。

偏差顯示

預(yù)先設(shè)置測(cè)量部件的顯示值，可顯示與預(yù)設(shè)值的偏差、偏差%。可應(yīng)用于零部件容許差的規(guī)格值的合格判定及溫度特性試驗(yàn)等。

比較器

主參數(shù)*可分為14個(gè)*的BIN類別，在副參數(shù)中可以對(duì)設(shè)定好的1組上下限值的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行分選。測(cè)量值可通過偏差或偏差%進(jìn)行分選，判定結(jié)果通過處理器接口*輸出。另外，根據(jù)判定結(jié)果，有時(shí)會(huì)發(fā)出嗶噗的聲音。
在遠(yuǎn)程控制中，使用限值判定功能，也可以對(duì)主參數(shù)、副參數(shù)的上下限值（各1組）進(jìn)行判定。
*ZM2371：*多分9類，未配備處理器接口。

復(fù)合測(cè)量 (ZM 2376)

復(fù)合測(cè)量是指對(duì)一個(gè)試樣*多可32個(gè)步驟的測(cè)量條件測(cè)量，綜合的進(jìn)行合格判定的功能。可設(shè)定每個(gè)步驟的測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平、內(nèi)部DC偏壓、測(cè)量參數(shù)等，對(duì)主參數(shù)的上下限值1組、副參數(shù)的上下限值1組進(jìn)行測(cè)量和限值判定。
*ZM2376的功能。

接口


標(biāo)配遠(yuǎn)程控制用的各種接口。無需追加選購件就可對(duì)應(yīng)生產(chǎn)線嵌入及自動(dòng)檢查系統(tǒng)等。

接口	ZM2371	ZM2372	ZM2376
USB	○	○	○
RS-232	○	○	○
GPIB	-	○	○
LAN	-	-	○（選購）
處理器	-	○	○

ZM2376 后面板

其他功能

補(bǔ)正功能（開路補(bǔ)正，短路補(bǔ)正，負(fù)載補(bǔ)正，電纜線補(bǔ)正）
設(shè)置、補(bǔ)正值存儲(chǔ)（32組、保存在不揮發(fā)性儲(chǔ)存中、可切換）
電壓電流測(cè)量功能
應(yīng)用軟件（標(biāo)配）
樣板程序（C#、VB.NET）
標(biāo)配LabVIEW驅(qū)動(dòng)＜ZM2371/ZM2372＞
IVI計(jì)測(cè)器驅(qū)動(dòng)（在LabVIEW的系統(tǒng)上自動(dòng)生成LabVIEW驅(qū)動(dòng)）＜ZM2376＞

項(xiàng)目		ZM2371	ZM2372	ZM2376
測(cè)量參數(shù)		主參數(shù)：｜Z｜、｜Y｜、 L、 C、 R、 G 副參數(shù)： Q、 D、 θ、 X、 B、 Rs、 Rp、 G、 Lp、 Rdc
測(cè)量頻率		1 mHz～100 kHz		1 mHz～5.5 MHz
基本精度		0.08 %
測(cè)量信號(hào)電平		10mVrms～5Vrms、1μArms～200mArms
內(nèi)部DC偏置		0～+2.5V		0～+5V
測(cè)量時(shí)間	1kHz	*快2ms
	1MHz	—	—	*快2ms
定電壓/ 定電流驅(qū)動(dòng)（ALC）		○	○	○
接觸檢測(cè)		—	○（4端子）	○
低電容檢測(cè)		—	—	○
比較器		○（9分類）	○（14分類）	○（14分類）
復(fù)合測(cè)量		—	—	○（32步驟）
處理器接口		—	○	○

ZM2371/ZM2372 附件
? 電源線組件 (3極, 2m)	1
? 使用說明書	1
? CD (應(yīng)用軟件, LabVIEW驅(qū)動(dòng), 樣例程序)	1

ZM2376 附件
? 電源線組件 (3極, 2m)	1
? CD (應(yīng)用軟件, 樣例程序, IV測(cè)量儀驅(qū)動(dòng))	1

測(cè)試夾具、測(cè)試導(dǎo)線(單獨(dú)出售)

匯集了可對(duì)應(yīng)各種應(yīng)用的測(cè)量夾具。
*測(cè)量頻率范圍是考慮了誤差因素的測(cè)量范圍。

	通用部件
可4端子測(cè)量的測(cè)試導(dǎo)線?？烧_測(cè)量低抗阻。開爾文夾測(cè)試導(dǎo)線是用2個(gè)電氣絕緣電極相向而成的1個(gè)測(cè)量夾。

4端子鱷魚夾測(cè)試導(dǎo)線 2324

測(cè)量頻率 ≤100kHz

2325AL（標(biāo)準(zhǔn)夾）	開爾文夾測(cè)試導(dǎo)線 2325AL/2325AM 測(cè)量頻率 ≤100kHz
	[M 型]	[L 型]

開爾文測(cè)量夾測(cè)試導(dǎo)線 ZM2392

測(cè)量頻率 ≤20kHz

適合高阻抗測(cè)量的遮蔽用導(dǎo)線的2端子連接的導(dǎo)線。
	3端子鱷魚夾測(cè)試導(dǎo)線 ZM2391 測(cè)量頻率 ≤20kHz

	導(dǎo)線類部件
只需要將試樣插入導(dǎo)線中就能輕松測(cè)量的4端子法測(cè)試夾具。可根據(jù)零部件大小來調(diào)整測(cè)量端子間隔。

測(cè)試夾具 ZM2363

測(cè)量頻率 ≤10MHz

	芯片部件
通過2端子連線來測(cè)量表面著裝部件的測(cè)試夾具。沒有使用電纜，因此寄生電容及殘留阻抗小，能夠正確的進(jìn)行開路補(bǔ)償、短路補(bǔ)償。

芯片測(cè)試夾具 ZM2394

測(cè)量頻率 ≤2MHz

對(duì)應(yīng)部件尺寸0603（厚度0.3mm）～14mm角

芯片測(cè)試夾具 ZM2394H

測(cè)量頻率 ≤36MHz

對(duì)應(yīng)部件尺寸0603（厚度0.3mm）～14mm角

芯片測(cè)試夾具 ZM2393

測(cè)量頻率 ≤1.2MHz

對(duì)應(yīng)部件尺寸1608～5750

遮蔽測(cè)量接口的3端子構(gòu)造的芯片部件用測(cè)試導(dǎo)線。寄生電容小，容易測(cè)量小容量電容。

芯片部件用測(cè)試導(dǎo)線 ZM2366

測(cè)量頻率 ≤10MHz

先端間隔 1~8mm (typ.)

芯片部件用測(cè)試導(dǎo)線 2326A

測(cè)量頻率 ≤1.2MHz

先端間隔 1~8mm (typ.)

適配器

	DC電壓偏置適配器
可在試樣上加載±40V的偏置電壓的適配器?？梢院?jiǎn)單的與LCR測(cè)量儀及測(cè)試夾具連接。（4端子對(duì)構(gòu)造）