一、可測(cè)試樣品：箔上涂層類樣品有：金屬箔上涂層（電池極片）或金屬材料上的的表面涂層（金屬容器防靜電涂層），如圖1-1和1-2（圖）圖1-2金屬箔上涂層（電池極片）二、方案選配箔上涂層電阻率方阻測(cè)試方案選配核心原則是，一是選用專門測(cè)試箔上涂層電阻率方阻探頭，二是配合我公司的測(cè)試儀

詳細(xì)介紹

一、可測(cè)試樣品：

     箔上涂層類樣品有：金屬箔上涂層（電池極片）或金屬材料上的的表面涂層（金屬容器防靜
電涂層），如圖1-1和1-2（圖）

金屬上涂層方塊電阻測(cè)試儀

圖1-2金屬箔上涂層（電池極片）

二、方案選配

     箔上涂層電阻率方阻測(cè)試方案選配核心原則是，一是選用專門測(cè)試箔上涂層電阻率方阻探頭，
二是配合我公司的測(cè)試儀。         
   總的方案選配原則：箔或金屬上涂層電阻率或方阻測(cè)試的方案選配分三個(gè)方面：探頭的選配、
儀器的選配、測(cè)試臺(tái)的選配。任意三件套組合可以構(gòu)成不同特色的方案，以下選配方案如下。

2.1測(cè)試箔或金屬涂層探頭的選配

一般測(cè)試電池極片類箔或金屬上涂層，低阻類的，可以選用我公司的ST2558B-F02型箔上涂層
電阻率/方阻探頭，這款是圓柱平頭形合金探針，專門測(cè)試箔或金屬上涂層電阻率/方阻。如下圖
2-1所示

四探針測(cè)試儀,方阻測(cè)試儀

圖2-1 ST2258B-F02 型箔上涂層探頭

2.2 箔或金屬上涂層四探針測(cè)試儀的選配

四探針測(cè)試儀選配的基本原則是材料電阻率或方阻的測(cè)試范圍、測(cè)試精度，一般的可以手持
式M-3型的。這款充電式的，方便攜帶。還可以選臺(tái)式的ST2258C的，如果測(cè)試范圍大一點(diǎn)的可以
選擇ST2253行的，這款是帶電腦PC軟件的，可以很好方便的儲(chǔ)存數(shù)據(jù)。這幾款可以自行選配，片
及測(cè)試范圍如下圖所示

***手持式M-3四探針測(cè)試儀***

測(cè)量范圍、分辨率

   電    阻：  0.010Ω ～ 50.00kΩ,         分辨率0.001Ω ～ 10 Ω
   電 阻 率：  0.010Ω-cm～ 20.00kΩ-cm，   分辨率0.001Ω ～ 10 Ω-cm
   方塊電阻：  0.050Ω/□ ～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001Ω ～ 10 Ω/□

ST2558B-F02型箔上涂層電阻率/方阻探頭

M-3手持式四探針測(cè)試儀

量程劃分及誤差等級(jí)

箔上涂層電阻率測(cè)試儀
***臺(tái)式ST2258C四探針測(cè)試儀***

測(cè)試范圍、分辨率

   電    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×10∧3  Ω,   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×10∧3  Ω
        （1.0×10-6 ～ 20.00×10∧3  Ω,       分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×10∧3 Ω）
   電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×10∧3 Ω-cm  分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×10∧3  Ω-cm
        （1.0×10-6 ～ 20.00×10∧3 Ω-cm      分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×10∧3 Ω-cm）
   方塊電阻：50.0×10-6 ～ 900.0×10∧3 Ω/□  分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×10∧3  Ω/□ 
        （5.0×10-6 ～ 100.0×10∧3 Ω/□      分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×10∧3  Ω/□）

量程劃分及誤差等級(jí)

金屬上涂層方塊電阻測(cè)試儀

   
                ST2258C 
   臺(tái)式ST2258C是款測(cè)試范圍大一點(diǎn)的，是八個(gè)寬量程手動(dòng)/自動(dòng)量程，帶產(chǎn)品分類功能的，比M-3
手持式多幾量程不帶PC測(cè)試軟件，手工記錄數(shù)據(jù)。

***臺(tái)式ST2722四端子測(cè)試儀***

測(cè)試范圍、分辨率

量程劃分及誤差等級(jí)

           ST2722四端子測(cè)試儀

   如果要測(cè)試箔上涂層的還要測(cè)試粉末的可以選擇臺(tái)式的ST2722四端子測(cè)試儀搭配專門測(cè)試箔上
涂層探頭來(lái)使用。

2.3箔或金屬上涂層測(cè)試四探針探頭選配

一般測(cè)試箔或金屬涂層測(cè)試臺(tái)可以選用手動(dòng)式的SZT-C型的，測(cè)試壓力可調(diào)節(jié)并保持恒定，快速
操作。如下圖所示

箔上涂層電阻率測(cè)試儀

SZT-C測(cè)試臺(tái)

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