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X射線熒光光譜儀（XRF）2

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產(chǎn)品型號Rigaku ZSX Primus Ⅱ

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更新時間：2025-12-01 08:59:32瀏覽次數(shù)：55次

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青島斯八達(dá)分析測試有限公司

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產(chǎn)品簡介

X射線熒光光譜儀（XRF）【型號】Rigaku ZSX Primus Ⅱ【生產(chǎn)廠家】日本理學(xué)【性能指標(biāo)】1.高靈敏度測試超輕元素，4 kW、30 μm薄窗X射線光管；2.采用48樣品交換器，實現(xiàn)平臺式共享化；3.雙真空系統(tǒng)（樣品室/預(yù)抽真空室），防止粉末樣品的細(xì)微粉塵混入光學(xué)系統(tǒng)；4.高靈敏度微區(qū)分析-Mapping位置分辨率100 μm；5.分光晶體：RX-25,RX-61,RX-75 獲取報價

詳細(xì)介紹

【特性和優(yōu)點】

X射線熒光光譜儀主要是由X射線光管發(fā)出的初級X射線激發(fā)試樣中的原子，產(chǎn)生的次級X射線通過晶體分光并用探測器測量，根據(jù)各元素特征X熒光光譜的波長和強(qiáng)度值進(jìn)行元素的定性和定量分析。ZSX Primus Ⅱ是波長色散掃描熒光光譜儀，可以對⁴Be到⁹²U進(jìn)行定性、定量分析。使用4 kW、30 μm超薄窗、超尖銳、長壽命X光管，超輕元素分析。元素的檢量范圍從0.0001%-99%，如進(jìn)行前處理，可以再下降2-3個數(shù)量級。

【主要功能和應(yīng)用】

ZSX Primus Ⅱ主要用于巖石、土壤、植物、環(huán)境調(diào)查樣品、地球化學(xué)樣品中K、Ca、Na、Mg、Si、Al等主量元素以及Ba、Sr、La等微量稀土元素的測試。可以分析的材料狀態(tài)包括：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。可以分析的領(lǐng)域包括：電子和磁性材料、化學(xué)工業(yè)、陶瓷及水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油和煤、環(huán)境保護(hù)等。

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