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杭州博源光電科技有限公司
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更新時間：2026-05-23 11:45:35瀏覽次數(shù)：49次
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BIM-6303 BIM-6314 單雙路反射支架可用于固體和粉末樣品材料多角度反射率的測量。單路形態(tài)時主要用于固定Y型光纖探頭，可測量光垂直入射的情況；雙路形態(tài)時主要用于固定兩根石英光纖探頭，可測量光不同角度入射的情況。單雙路形態(tài)可以方便地互相切換，具備高靈活性和強實用性。
BIM-6303 & BIM-6314 單雙路反射支架可用于固體和粉末樣品材料多角度反射率的測量。
單路形態(tài)時主要用于固定Y型光纖探頭，可測量光垂直入射的情況；
雙路形態(tài)時主要用于固定兩根石英光纖探頭，可測量光不同角度入射的情況。單雙路形態(tài)可以方便地互相切換，具備高靈活性和強實用性。
多功能：支持單路或雙路反射應(yīng)用
定位樣品放置位置：適用于Φ40mm，Φ60mm，Φ80mm，Φ100mm直徑的樣品尺寸。
定位靈活 : 具有中心穩(wěn)，多方向控制光纖入射和出射角度的特點。廣泛應(yīng)用于多角度測量。
BIM-6303 雙路反射支架
BIM-6314 單路反射支架
尺寸：Φ150mm×13mm
項目 | 型號 | 指標(biāo) |
雙路反射支架 | BIM-6303 | 可以用來固定反射式石英光纖，一端連接光譜儀，另一端連接光源，用于固體和粉末樣品的反射率測量。具備高靈活性和強實用性。 |
單路反射支架 | BIM-6314 | 適用于Y型光纖探頭，探頭高度、角度均可按照用戶實際需求固定。 |
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