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光電流測試顯微鏡-探針臺(tái)系統(tǒng)

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產(chǎn)品簡介

本顯微鏡是在金相顯微鏡基礎(chǔ)上導(dǎo)入另一路光源，用于輻照樣品以測試樣品在特定波長及能量下的電氣特性等測試目的。

詳細(xì)介紹

l 本顯微鏡是在金相顯微鏡基礎(chǔ)上導(dǎo)入另一路光源，用于輻照樣品以測試樣品在特定波長及能量下的電氣特性等測試目的。

l 本顯微鏡設(shè)計(jì)為雙光路或3光路，其中一路為導(dǎo)入光通路，另一到兩路為成像光路導(dǎo)入光為平行的激光或其它線性光源，波長范圍200nm~20000nm，中間可加入多個(gè)波片過濾，起偏及偏振角度無級(jí)360度調(diào)節(jié)。光斑輻照直徑有650nm紅光指示。

l 所有模塊均可拉出設(shè)計(jì)，對(duì)導(dǎo)入光性質(zhì)無影響。導(dǎo)入光光路可選擇一個(gè)光時(shí)間開關(guān)，精確控制導(dǎo)入光的輻照時(shí)間，精度1ms，范圍2ms~∞，在控制界面上可對(duì)各種參數(shù)進(jìn)行詳細(xì)設(shè)置。

成像光路為同軸照明金相成像，其中一路為1倍成像，可選擇第2路成像，為物鏡的0.25~10倍率，通常在高低溫測試系統(tǒng)里會(huì)用到，同一個(gè)物鏡不切換，得到兩個(gè)不同視野的成像。