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LZH-4C 電子散斑干涉實(shí)驗(yàn)儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

儀器簡(jiǎn)介：電子散斑干涉(ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場(chǎng)實(shí)時(shí)測(cè)量技術(shù),因其通用性強(qiáng)、測(cè)量精度高、頻率范圍寬及測(cè)量簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)，電子散斑干涉無(wú)損檢測(cè)技術(shù)可以完成位移、應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測(cè)試

詳細(xì)介紹

儀器簡(jiǎn)介：

電子散斑干涉( ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場(chǎng)實(shí)時(shí)測(cè)量技術(shù),因其通用性強(qiáng)、測(cè)量精度高、頻率范圍寬及測(cè)量簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn) ，電子散斑干涉無(wú)損檢測(cè)技術(shù)可以完成位移、應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測(cè)試。電子散斑干涉實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)借助于粗糙表面信息的攜帶者-散斑來(lái)研究物體離面形變，是計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)、激光技術(shù)以及全息干涉技術(shù)相結(jié)合的一種現(xiàn)代光測(cè)技術(shù)。激光的高相干性使散斑現(xiàn)象顯而易見(jiàn)，采用CCD攝像機(jī)，使之可采用計(jì)算機(jī)處理數(shù)據(jù)和圖像。電子散斑干涉應(yīng)用廣泛，如物體形變測(cè)量、無(wú)損測(cè)量、振動(dòng)測(cè)量等。