詳細(xì)摘要: 薄膜測(cè)量 該系統(tǒng)為單層膜測(cè)量提供了所需的測(cè)量工具,包括反射探頭和支架,可以測(cè)量的膜層厚度從10nm到50μm,分辨率可達(dá)1nm,測(cè)量范圍從紫外/可見到近紅外(2...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:北京市更新時(shí)間:2026-05-20 在線留言印前設(shè)備 印刷機(jī)械 印后設(shè)備 裝訂設(shè)備 廣告設(shè)備 辦公設(shè)備 印刷機(jī)械配件 其它印刷相關(guān)器材 其它印刷設(shè)備
