詳細(xì)摘要: 微區(qū)探頭Ava-Probe-M Ava-Probe-M是專門針對(duì)微小區(qū)域(≤1mm)的反射率測(cè)試設(shè)計(jì)的,適用于表面平整,形狀規(guī)則的材料
產(chǎn)品型號(hào):所在地:北京市更新時(shí)間:2026-05-20 在線留言印前設(shè)備 印刷機(jī)械 印后設(shè)備 裝訂設(shè)備 廣告設(shè)備 辦公設(shè)備 印刷機(jī)械配件 其它印刷相關(guān)器材 其它印刷設(shè)備
