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深圳市科時達(dá)電子科技有限公司
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更新時間：2026-07-11 12:51:07瀏覽次數(shù)：74次
聯(lián)系我時，請告知來自 包裝印刷網(wǎng)The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時進(jìn)行定量納米力學(xué)測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 的電容傳感技術(shù)，繼承了市場的批商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態(tài)測試和力學(xué)性能成像等功能。
The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時進(jìn)行定量納米力學(xué)測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 的電容傳感技術(shù)，繼承了市場的批商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態(tài)測試和力學(xué)性能成像等功能。
控制和性能
Hysitron PI 89的緊湊設(shè)計允許的樣品臺傾斜，以及測試時成像的最小工作距離。PI 89為研究者提供了比競爭產(chǎn)品更廣闊的適用性和性能：
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