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薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)

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產(chǎn)品型號MRS-3/MRS-3RT

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更新時間：2023-08-24 13:16:00瀏覽次數(shù)：551次

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  薄膜材料物性分析儀器

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杭州華盼科技有限公司

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聯(lián)系人：錢經(jīng)理

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產(chǎn)品簡介

簡要描述：武漢嘉儀通 MRS-3/MRS-3RT薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)專門針對薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測量，測溫范圍達(dá)到81K~700K，采用動態(tài)法測量Seebeck系數(shù),避免了靜態(tài)測量在溫差測量上的系統(tǒng)誤差,測量更準(zhǔn)確。

詳細(xì)介紹

薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)產(chǎn)品特點(diǎn)

專門針對薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測量。

測試環(huán)境溫度范圍達(dá)到81K~700K。

采用動態(tài)法測量Seebeck系數(shù)，避免了靜態(tài)測量在溫差測量上的系統(tǒng)誤差，測量更準(zhǔn)確。

采用四線法測量電阻率。

熱電偶探針經(jīng)過嚴(yán)格的篩選配對保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確和穩(wěn)定。

軟件操作簡單，智能化可實(shí)現(xiàn)全自動模式。

薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)測試實(shí)例

標(biāo)準(zhǔn)鎳帶測試結(jié)果

東華大學(xué)MoS2測試結(jié)果

MRS-3對Bi2Te3薄膜測試結(jié)果（電工研究所提供樣品）

薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)

型號	MRS-3		MRS-3RT
環(huán)境溫度	81K~700K		RT
溫控方式	PID程序控制	/
真空度	≤ 1Pa	/
測試氣氛	真空	空氣
測量范圍	澤貝克系數(shù)：S ≥ 8µV/K；電阻率：0.1µΩ•m ~ 1000KµΩ•m
分辨率	澤貝克系數(shù)：0.05µV/K；電阻率：0.05µΩ•m
相對誤差	澤貝克系數(shù) ≤ 7%，電阻率 ≤ 5%
測量模式	自動
樣品尺寸	長 x 寬:(10~18)x(4~14)mm²,薄膜厚度≥50nm
主機(jī)尺寸	采集箱：470x400x140，單位mm 變溫裝置：直徑x高 460x800mm		170x250x220，單位mm
重量	31.9kg		3.5kg