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SE-Mapping光譜橢偏儀

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產(chǎn)品型號SE-Mapping

品牌

廠商性質(zhì)其他

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更新時間：2023-08-23 15:17:08瀏覽次數(shù)：308次

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杭州華盼科技有限公司

經(jīng)營模式：其他

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聯(lián)系人：錢經(jīng)理

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產(chǎn)品簡介

簡要描述：SE-Mapping 光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測量光譜橢偏儀。

詳細(xì)介紹

概述

SE-Mapping 光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測量光譜橢偏儀，采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù)，配置全自動Mapping測量模塊，通過橢偏參數(shù)、透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實(shí)現(xiàn)薄膜全基片膜厚以及光學(xué)參數(shù)自定義繪制化測量表征分析。

。全基片橢偏繪制化測量解決方案

。支持產(chǎn)品設(shè)計(jì)以及功能模塊定制化，一鍵繪制測量

。配置Mapping模塊，全基片自定義多點(diǎn)定位測量能力

。豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫，保證*數(shù)據(jù)分析能力

產(chǎn)品特點(diǎn)

采用氘燈和鹵素?zé)魪?fù)合光源，光譜覆蓋紫外到近紅外范圍 (193-2500nm)；

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