EX1手動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法(或稱“零橢偏”)橢偏測(cè)量原理,針對(duì)納米薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款手動(dòng)教學(xué)儀器。
EX1 儀器適用于納米薄膜的厚度測(cè)量、以及納米薄膜的厚度和折射率測(cè)量。
EX1儀器還可用于測(cè)量塊狀材料(如,金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì))的折射率n和消光系數(shù)k。
特點(diǎn):
· 消光法橢偏測(cè)量原理
儀器采用消光法橢偏測(cè)量原理,易于操作者理解和掌握橢偏測(cè)量基本原理和過(guò)程。
· 方便的樣品水平放置方式
采用水平放置樣品,方便樣品取放。
· 精巧的一體化結(jié)構(gòu)
集成一體化設(shè)計(jì),精巧的儀器外形,方便地顯示儀器測(cè)量過(guò)程中的光強(qiáng)信息。
· 高準(zhǔn)確性的激光光源
采用激光作為探測(cè)光波,測(cè)量波長(zhǎng)準(zhǔn)確度高。
· 實(shí)用的樣品測(cè)量功能
可測(cè)量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復(fù)折射率。
· 方便的儀器手動(dòng)操作
手動(dòng)完成測(cè)量,儀器軟件輔助進(jìn)行測(cè)量數(shù)據(jù)的分析。
· 可擴(kuò)展的儀器功能
利用本儀器,可通過(guò)適當(dāng)擴(kuò)展,完成多項(xiàng)偏振測(cè)量實(shí)驗(yàn),如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測(cè)量實(shí)、旋光等。
應(yīng)用:
EX1適合于教學(xué)領(lǐng)域,適用于單層納米薄膜的薄膜厚度測(cè)量,也可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。
EX1可測(cè)量的樣品涉及微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽(yáng)電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領(lǐng)域。
技術(shù)指標(biāo):
| 項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
| 儀器型號(hào) | EX1 |
| 測(cè)量方式 | 手動(dòng) |
| 樣品放置方式 | 水平放置 |
| 光源 | He-Ne激光器,波長(zhǎng)632.8nm |
| 探測(cè)光束直徑 | Φ2-3mm |
| 入射角度 | 30°-90°,步距5°,誤差0.1° |
| 偏振器方位角讀數(shù)范圍 | 0-360° |
| 偏振器刻度 | 1°/格 |
| 偏振器較小讀數(shù) | 0.05° |
| 樣品方位調(diào)整 | Z軸高度調(diào)節(jié):12mm 二維俯仰調(diào)節(jié):±4° |
| 允許樣品尺寸 | 樣品直徑可達(dá)Φ120mm |
| 配套軟件 | * 多個(gè)測(cè)量項(xiàng)目選擇 * 測(cè)量數(shù)據(jù)分析、計(jì)算、輸入輸出 |
| 較大外形尺寸 | (入射角度70°時(shí))長(zhǎng)寬高:556*286*405 mm |
| 儀器重量(凈重) | 13kg |
| 選配件 | * 激光二極管,波長(zhǎng)635nm |
注:(1)測(cè)量重復(fù)性:是指對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測(cè)量30次所計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)差。
性能保證:
· ISO9001國(guó)際質(zhì)量體系認(rèn)證下的儀器質(zhì)量保證
· 專業(yè)的橢偏測(cè)量原理課程講授
· 專業(yè)的儀器使用培訓(xùn)