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高精度光束分析儀 (Beam Analyzer Touch)

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長春市海洋光電有限公司

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產(chǎn)品簡介

詳細介紹

　　詳細內(nèi)容

　　主要特征：

　　● 12 bit A/D

　　● 同時高分辨率采樣所有模式

　　● 實時檢測光束質(zhì)量、尺寸和高斯擬合

　　● 實時顯示光束2D/3D圖像

　　● 測量光束的中心、橢圓度和功率

　　● Excel數(shù)據(jù)存儲

　　● RS232或TCP/IP數(shù)據(jù)傳輸

　　● 可遠程操作

　　● 觸摸屏顯示

傳感器類型		Si UV-Si IR IRE
光譜范圍	Si UV-Si IR IR增強	350-1100nm 190-1100nm 800-1800nm 1200-2700nm
刀片數(shù)		3（BA3頭） 7（BA7頭）
光束尺寸范圍	BA3-Si和BA3-UV BA7-Si和BA7-UV(橢圓形) BA7-Si和BA7-UV（圓形） BA3-IR3和BA3-IR3-E BA7-IR3和BA7-IR3-E BA3-IR5 BA7-IR5	3µm-5mm 15µm-10mm 15µm-9mm 3µm-3mm 15µm-3mm 3µm-5mm 15µm-5mm
光束寬度分辨率	>100µm <100µm	1µm 0.1µm
光束寬度精確度		±2%
功率范圍	Si和UV-Si探頭 InGaAs探頭	10µW-1W(有衰減片) 10µW-5mW(無衰減片)
功率精確度	Si和UV-Si探頭 InGaAs探頭	±5% ±10%
功率分辨率		0.1µW
位置精確度		±15µm
位置分辨率		1µm
飽和度	Si和UV-Si探頭	0.1W/cm²(無衰減片)，20W/cm²(NG9)
測量速率		5Hz
溫度		0oC-35 oC
PC接口		USB2.0（PCI可選）