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薄膜厚度繪圖儀

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產(chǎn)品型號FPANG-SRM300

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更新時間：2023-02-15 15:39:58瀏覽次數(shù)：487次

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孚光精儀公司

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產(chǎn)品簡介

這款薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術(shù)測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，對整個面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)

詳細(xì)介紹

這款薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術(shù)測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，對整個面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)。
這款薄膜厚度繪圖儀具有較長工作距離，工作距離可調(diào)，超大樣品臺，可選光源等特點(diǎn)。

薄膜厚度繪圖儀特點(diǎn)
易于安裝
軟件基于Windows系統(tǒng)，方便使用
*光學(xué)設(shè)計，良好系統(tǒng)表現(xiàn)
陣列光譜探測器保證快速測量
測量薄膜厚度和折射率高達(dá)5層
可測量反射，透射和吸收光譜
可用于實(shí)時在線的薄膜厚度和折射率測量
具有齊全的材料光譜舍數(shù)據(jù)庫
可升級到顯微分光光度計
適合不同襯底和不同薄膜厚度測量
薄膜厚度繪圖儀參數(shù)
波長范圍：400-1050nm
光點(diǎn)大?。?00um - 5mm
樣品大?。?00mm 直徑
襯底厚度：高達(dá)50um
測量薄膜厚度范圍： 50nm -50um
重復(fù)定位精度：1um
測量時間：最小2ms
精度：0.5%
重復(fù)精度：<1A
薄膜厚度繪圖儀應(yīng)用
半導(dǎo)體制造
液晶顯示屏測量
刑偵
生物膜測量
礦石地質(zhì)分析
制藥醫(yī)學(xué)分析
光學(xué)鍍膜測量
功能薄膜MEMS測量
太陽能電池薄膜測量

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