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高低頻介電常數測試儀(20HZ-2MHZ)

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產品簡介

高低頻介電常數測試儀GCSTD-D性能特點■測試頻率20Hz～2MHz

詳細介紹

高低頻介電常數測試儀

GCSTD-D

性能特點

■ 測試頻率20Hz～2MHz，10mHz步進
■ 測試電平10mV～5V, 1mV步進
■ 基本準確度0.1%
■ 達200次/s的測量速度
■ 320×240點陣大型圖形LCD顯示
■ 五位讀數分辨率
■ 可測量22種阻抗參數組合
■ 四種信號源輸出阻抗
■ 10點列表掃描測試功能
■ 內部自帶直流偏置源
■ 外置偏流源至40A(配置兩臺TH1776)(選件)
■ 電壓或電流的自動電平調整(ALC)功能
■ V、I測試信號電平監(jiān)視功能
■ 圖形掃描分析功能
■ 20組內部儀器設定可供儲存/讀取
■ 內建比較器,10檔分選及計數功能
■ 多種通訊接口方便用戶聯機使用
■ 2m/4m測試電纜擴展(選件)
■ 中英文可選操作界面
■ 可通過USB HOST 自動升級儀器工作程序

簡要介紹

廣泛的測量對象

無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。

半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析

其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估

介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估

磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

半導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性

液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性

技術參數

測試參數	C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測試頻率		20 Hz～2MHz,10mHz步進
測試信號電	f≤1MHz	10mV～5V,±（10%+10mV）
平	f>1MHz	10mV～1V,±（20%+10mV)
輸出阻抗	10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準確度	0.1%
	L	0.0001 uH ～ 9.9999kH
	C	0.0001 pF ～ 9.9999F
	R,X,Z,DCR	0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
顯示范圍	Y, B, G	0.0001 nS ～ 99.999 S
	D	0.0001 ～ 9.9999
	Q	0.0001 ～ 99999
	θ	-179.99°～ 179.99°
測量速度	快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準功能	開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準
等效方式	串聯方式, 并聯方式
量程方式	自動, 保持
顯示方式	直讀, Δ, Δ%
觸發(fā)方式	內部, 手動, 外部, 總線
內部直流偏	電壓模式	-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進
置源	電流模式（內阻為50Ω）	-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進
比較器功能	10檔分選及計數功能
顯示器	320×240點陣圖形LCD顯示
存儲器	可保存20組儀器設定值
	USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
	USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口	LAN(LXI class C support)
	RS232C
	HANDLER
	GPIB（選件）