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北京冠測精電儀器設備有限公司

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北京冠測儀器GESTD-D GESTD-D高低頻介電常數(shù)測試儀參數(shù)

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更新時間：2023-02-14 09:20:04瀏覽次數(shù)：337次

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產(chǎn)品分類 品牌分類

  電學性能檢測儀器

GC-F液體介電常數(shù)測試儀

GC-D高低頻介電常數(shù)測試儀
  電線電纜檢測儀器
  海綿泡沫材料檢測儀器
  介電常數(shù)

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北京冠測精電儀器設備有限公司

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聯(lián)系人：王國平

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產(chǎn)品簡介

詳細介紹

高低頻介電常數(shù)測試儀

GCSTD-D

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法

二、試驗方法：

接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

非接觸法：適用于上下表面不平整、不光滑材料

電極類型：固定電極-測量電極φ38mm/φ50mm(標配電極1套，標配為38mm)

粉體電極-根據(jù)樣品量可配專用電極

試樣類型：固體、液體、粉體、膏體/規(guī)則物或者不規(guī)則物

三、性能特點

四、簡要介紹

測試材料：

無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。

半導體元件：變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估

介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

半導體材料：半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性

液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

五、隨機配置

1、主機：1臺

2、測試電極：1套

3、數(shù)據(jù)線：1套

4、電源線：1根

5、合格證：一份

6、測試系統(tǒng)：一套

六、技術(shù)參數(shù)

測試參數(shù)	C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測試頻率		20 Hz～2MHz,10mHz步進
測試信號電	f≤1MHz	10mV～5V,±（10%+10mV）
平	f>1MHz	10mV～1V,±（20%+10mV)
輸出阻抗	10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準確度	0.1%
	L	0.0001 uH ～ 9.9999kH
	C	0.0001 pF ～ 9.9999F
	R,X,Z,DCR	0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
顯示范圍	Y, B, G	0.0001 nS ～ 99.999 S
	D	0.0001 ～ 9.9999
	Q	0.0001 ～ 99999
	θ	-179.99°～ 179.99°
測量速度	快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準功能	開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準
等效方式	串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式
量程方式	自動, 保持
顯示方式	直讀, Δ, Δ%
觸發(fā)方式	內(nèi)部, 手動, 外部, 總線
內(nèi)部直流偏	電壓模式	-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進
置源	電流模式（內(nèi)阻為50Ω）	-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進
比較器功能	10檔分選及計數(shù)功能
顯示器	320×240點陣圖形LCD顯示
存儲器	可保存20組儀器設定值
	USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
	USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口	LAN(LXI class C support)
	RS232C
	HANDLER
	GPIB（選件）