深圳華普通用科技有限公司
會(huì)員1.png)
暫無信息 |
詳細(xì)摘要： DSC差示掃描量熱儀測(cè)量的是與材料內(nèi)部熱轉(zhuǎn)變相關(guān)的溫度、熱流的關(guān)系，應(yīng)用范圍非常廣， 特別是材料的研發(fā)、性能檢測(cè)與質(zhì)量控制。
產(chǎn)品型號(hào)：DSC所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： Discovery DSC™ 是來自美國(guó)TA儀器，在差示掃描量熱儀領(lǐng)域的創(chuàng)新性產(chǎn)品，它重新定義了性能、質(zhì)量和實(shí)用性
產(chǎn)品型號(hào)：Discovery DSC™所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 差示掃描量熱儀DSC8231差示掃描量熱法（DSC）量化熔化、轉(zhuǎn)變、結(jié)晶和玻璃化轉(zhuǎn)變溫度等反應(yīng)中的能量變化，主要用于研發(fā);以及聚合物、制藥領(lǐng)域的質(zhì)量控制。
產(chǎn)品型號(hào)：DSC8231所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 制作出證珠寶鑒定證書流程通常是，打印證書--塑封—蓋章。目前塑封裝置與蓋章機(jī)是兩個(gè)獨(dú)立的裝置，操作人員先用塑封裝置對(duì)證書進(jìn)行塑封，然后再把證書拿到蓋章機(jī)去手動(dòng)蓋...
產(chǎn)品型號(hào)：CHE-1所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 采用垂直同步雙觀測(cè) (DSOI)技術(shù)的ICP-OES等離子體發(fā)射光譜儀 SPECTROGREEN
產(chǎn)品型號(hào)：GREEN TI所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 40 多年來，日本理學(xué)Simultix 15波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀系統(tǒng)已被廣泛用作需要高吞吐量和精度的行業(yè)（例如鋼鐵和水泥）過程控制的元素分析工具
產(chǎn)品型號(hào)：Simultix 15所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 應(yīng)用于X射線熒光光譜儀配用的壓片機(jī)作為壓樣模具。
產(chǎn)品型號(hào)：PVC環(huán)所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評(píng)估的X射線熒光分析儀同時(shí)對(duì)各種薄膜的薄膜厚度和成分進(jìn)行無損、非接觸式分析
產(chǎn)品型號(hào)：WDA-3650所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 全反射 X 射線熒光光譜儀表面污染計(jì)量測(cè)量離散點(diǎn)的元素污染或使用完整的晶圓圖
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： Rigaku 獨(dú)特的 ZSX Primus 400 連續(xù)波長(zhǎng)色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設(shè)計(jì)。
產(chǎn)品型號(hào)：ZSX Primus 400所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 日本理學(xué)全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310通過 VPD-TXRF 進(jìn)行晶圓表面污染測(cè)量超痕量元素表面污染的測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào)：TXRF-V310所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 理學(xué)臺(tái)式X射線衍射儀系統(tǒng)將重新定義你所認(rèn)為的X射線衍射儀方式。
產(chǎn)品型號(hào)：MiniFlex 600所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 高精度X射線熒光（HDXRF）技術(shù)特別適用于對(duì)電氣設(shè)備零部件和原材料中潛在有毒重金屬檢測(cè)，滿足嚴(yán)格的精度要求。
產(chǎn)品型號(hào)：HD Mobile ™所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過反射率進(jìn)行測(cè)量，可進(jìn)行高精度膜厚度 光學(xué)常數(shù)分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測(cè)量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學(xué)材料和多層膜。...
產(chǎn)品型號(hào)：OPTM SERIES所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： Signal臺(tái)式分析儀采用了XOS的MWD XRF技術(shù)平臺(tái)（該技術(shù)還應(yīng)用于Sindie和Clora分析儀），是硅含量分析儀的理想解決方案，具有的分析精準(zhǔn)度、準(zhǔn)確...
產(chǎn)品型號(hào)：Signal（M系列）所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 小巧和方便使用的SINDIE試驗(yàn)室分析儀是被設(shè)計(jì)用于檢測(cè)汽油，柴油和重油等石油產(chǎn)品中中超低總硫含量。
產(chǎn)品型號(hào)：Sindie 7039所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 眾多國(guó)際、國(guó)內(nèi)分析標(biāo)準(zhǔn)均按照PHASE(菲斯)公司產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)制定。 PHASE(菲斯)公司全自動(dòng)冰點(diǎn)、傾點(diǎn)、凝點(diǎn)、濁點(diǎn)檢測(cè)儀-70Xi采取自動(dòng)脈沖壓檢測(cè)，冰點(diǎn)、傾...
產(chǎn)品型號(hào)：70Xi所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 在工業(yè)過程控制分析中，分析儀器的靈敏度、精度及分析速度是至關(guān)重要的。SPECTRO iQ 在這一領(lǐng)域已建立了相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)。全新的SPECTRO iQ II在此基礎(chǔ)上...
產(chǎn)品型號(hào)：iQ II所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 全新的SPECTROCUBE型ED-XRF分析儀為各種應(yīng)用提供簡(jiǎn)單、可靠、準(zhǔn)確、高通量的分析，在貴金屬分析、燃料和潤(rùn)滑油、RoHS合規(guī)檢測(cè)及各種篩分分析尤為優(yōu)秀...
產(chǎn)品型號(hào)：XRF （CUBE）所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 超大樣品室，20倍放大攝像頭，可調(diào)節(jié)光斑大小，高靈敏度，高分辨率，可實(shí)現(xiàn)點(diǎn)、線、面掃描，特別適合復(fù)雜樣品的分析。 珠寶行業(yè)、貴金屬等復(fù)雜樣品檢測(cè)
產(chǎn)品型號(hào)：MIDEX所在地：深圳市更新時(shí)間：2026-03-31 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
包裝印刷網(wǎng) 設(shè)計(jì)制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請(qǐng)輸入賬號(hào)
請(qǐng)輸入密碼
請(qǐng)輸驗(yàn)證碼
