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UV762雙光束紫外可見分光光度計(jì)

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產(chǎn)品簡介

UV762雙光束紫外可見分光光度計(jì)是一種全新的雙光束自動(dòng)掃描紫外可見分光光度計(jì)，采用了全新的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)、微機(jī)控制和處理數(shù)據(jù)、大屏幕LCD中文窗口顯示操作菜單、光譜圖和分析測試數(shù)據(jù)

詳細(xì)介紹

UV762雙光束紫外可見分光光度計(jì)主要特點(diǎn)：
● 全新的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，使儀器的主機(jī)具有優(yōu)良的光學(xué)性能和測光性能，雜散光和噪聲低，測光精確度和穩(wěn)定可靠性高。
● *的氘燈和鎢燈安裝、光源自動(dòng)切換及自動(dòng)尋找*位置的設(shè)計(jì)和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全。
● 優(yōu)良的軟件設(shè)計(jì)和編制，使儀器有較強(qiáng)的光譜數(shù)據(jù)處理功能：自動(dòng)掃描測量光譜、多波長（1～3λ）測定、動(dòng)力學(xué)測定、1～3次曲線擬合、1～4階導(dǎo)數(shù)光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數(shù)據(jù)。
● 采用大屏幕中文窗口顯示，具有良好的人機(jī)對話界面。

UV762雙光束紫外可見分光光度計(jì)技術(shù)指標(biāo)：
● 波長范圍：200nm～1100nm
● 波長zui大允許誤差：±0.5nm
● 波長重復(fù)性：≤0.2nm
● 透射比zui大允許誤差：±0.5%（T）
● 透射比重復(fù)性：0.2%（T）
● 光譜帶寬：2nm
● 基線平直度：±0.004A（200nm～1000nm）
● 漂移：≤0.004A/h（500nm處，預(yù)熱2小時(shí)）
● 雜散光：≤0.15%（T）（在220nm處, 以NaI測定）（在360nm處，以NaNO2測定）