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MiniTest1100/21/31/4100 涂層測厚儀

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北京時代山峰科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

MiniTest1100/2100/3100/4100 涂層測厚儀包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能，MiniTest1100/21/31/4100 涂層測厚儀均可配所有探頭，可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計算機(jī)，可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層FN兩用探頭：同時具備F型和N型探頭的功能.

詳細(xì)介紹

MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍覆層測厚儀
MiniTest1100/21/31/4100 涂層測厚儀包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能，所有型號均可配所有探頭，可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計算機(jī)，可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N型探頭的功能
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用
在選擇適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素
MiniTest1100/2100/3100/4100 涂層測厚儀數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計算機(jī)；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)

技術(shù)指標(biāo)

型號	1100	2100	3100	4100
MINITEST存儲的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))	1	1	10	99
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，并可設(shè)寬容度極限值)		1	10	99
可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù)		1	500	500
數(shù)據(jù)總量	1	10000	10000	10000
MINITEST統(tǒng)計計算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar		√	√	√
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk			√	√
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar			√	√
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk			√	√
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)				√
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值			√	√
顯示并打印測量值、打印的日期和時間		√	√	√
其他功能
設(shè)置極限值			√	√
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別大小值			√	√
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)			√	√
連續(xù)測量模式中顯示小值			√	√

探頭		量程	低端分辨率	誤差	小曲率半徑 (凸/凹)	小測量區(qū)域直徑	小基體厚度	探頭尺寸
磁感應(yīng) 法	F05	0-500μm	0.1μm	±(1%±0.7μm)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
	F1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F2/90	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F10	0-10mm	5μm	±(1%±10μm)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
	F20	0-20mm	10μm	±(1%±10μm)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
	F50	0-50mm	10μm	±(3%±50μm)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
兩用	FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50μm	φ15x62mm
	FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面	30mm	F0.5mm/N50μm	φ21x89mm
	FN2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50μm	φ15x62mm
電渦流法	N02	0-200μm	0.1μm	±(1%±0.5μm)	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
	N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%±1μm)	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
	N1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
	N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
	N2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	50μm	φ15x62mm
	N2/90	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
	N10	0-10mm	10μm	±(1%±25μm)	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
	N20	0-20mm	10μm	±(1%±50μm)	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
	N100	0-100mm	100μm	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
	CN02	10-200μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面	7mm	無限制	φ17x80mm

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

測頭 F05	(鐵基體涂鍍層小測量面積直經(jīng)3mm 0-500um,低端分辨率0.1um)
測頭 F3	(鐵基體涂鍍層 0-3000um，低端分辨率0.2um)
測頭 F1.6	(鐵基體涂鍍層 0-1600um，低端分辨率0.1um)
測頭 F1.6P	(鐵基體上未固化粉末涂層 0-1600um，低端分辨率0.1um)
測頭 F1.6/90	(鐵基體涂鍍層測管內(nèi)壁 0-1600um，低端分辨率0.1um)
測頭 F10/2,F20	(鐵基體涂鍍層 0-10mm,分辨率5um,0-20mm,分辨率10um)
測頭 F50	(鐵基體涂鍍層 0-50mm，分辨率，10um)
測頭 FN1.6	(鐵及銅鋁基體涂鍍層 0-1600um,分辨率0.1um)
測頭 FN1.6P	(鐵及銅鋁基體上未固化粉末涂層 0-1600um,分辨率0.1um)
測頭 N02	(銅鋁基體涂層 0-200um，分辨率，0.1um)
測頭 N08 Cr	(銅基體上鍍鉻層 0-800um,分辨率0.1um)
測頭 N02 Tu	(鋁箔或鋁薄壁管上薄涂層 0-200um,分辨率0.1um)
用于測頭N02 Tu的專用支架
測頭 N1.6	(銅鋁基體涂層 0-1600um,分辨率0.1um)
測頭 N1.6/90	(銅鋁基體涂層測管內(nèi)壁 0-1600um,分辨率0.1um)
測頭 N10/2,N20	(銅鋁基體涂鍍層 0-10mm,分辨率10um,0-20mm,分辨率10um)
測頭 N100	(鐵及銅鋁基體涂鍍層 0-100mm,分辨率100um)
測頭 CN 02	(敷銅板等 10-200um,分辨率0.2um)
RS232 接口電纜 for 2100/4100	配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于連接個人電腦)
MSOFT41 數(shù)據(jù)分析軟件 for 4100	配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于連接個人電腦)