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SF630超聲波探傷儀

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SF630超聲波探傷儀特點(diǎn)●的衛(wèi)星鍵分布，實(shí)現(xiàn)單手握持操作

詳細(xì)介紹

SF630超聲波探傷儀特點(diǎn)

●的衛(wèi)星鍵分布，實(shí)現(xiàn)單手握持操作。

●根據(jù)環(huán)境選擇背景色，亮度可自由設(shè)定，強(qiáng)光、弱光環(huán)境，清晰顯示。

●預(yù)置50組獨(dú)立探傷通道，探傷工藝和標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)生成，可自由設(shè)置各行業(yè)探傷工藝標(biāo)準(zhǔn)，現(xiàn)場(chǎng)探傷無(wú)需攜帶試塊，滿(mǎn)足更多需求。

●增益、聲程、閘門(mén)、通道的調(diào)節(jié)不僅可以導(dǎo)航鍵調(diào)節(jié)，更是創(chuàng)數(shù)字鍵直接輸入，探傷更加快捷高效。

●具有獨(dú)立雙探傷閘門(mén)，可分別設(shè)置進(jìn)波報(bào)警，失波報(bào)警和雙閘門(mén)報(bào)警，并可顯示回波-回波距離，適用于完成不同種類(lèi)的探傷任務(wù)。

●雙晶探頭曲線制作功能。

●內(nèi)置AWS D1.1/D1.5標(biāo)準(zhǔn)

●實(shí)用的AVG曲線，自動(dòng)換算缺陷值。

●對(duì)實(shí)測(cè)DAC曲線，可進(jìn)行任意一點(diǎn)或多點(diǎn)修正。

●具有直探頭、斜探頭、雙晶探頭及穿透四種探傷工作方式。

●缺陷回波參數(shù)（距離、垂直、水平、波幅、dB或當(dāng)量孔徑值）實(shí)時(shí)顯示。

●具有自動(dòng)增益、峰值記憶、回波包絡(luò)、門(mén)內(nèi)報(bào)警、DAC門(mén)、門(mén)內(nèi)展寬等功能

●VGA接口，無(wú)縫對(duì)接投影儀。

●SD卡存儲(chǔ)設(shè)計(jì)，實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)記錄檢測(cè)波形、數(shù)據(jù)，無(wú)需主機(jī)與電腦連接后安裝相關(guān)驅(qū)動(dòng)，只需通過(guò)U盤(pán)便將儀器內(nèi)存儲(chǔ)波形、數(shù)據(jù)快速導(dǎo)出。

●超低功耗設(shè)計(jì)，連續(xù)使用10小時(shí)以上。

SF630超聲波探傷儀參數(shù)

通道數(shù)： 50組通道

工作頻率： 0.5 ~ 20MHz

總增益量： 110dB(分0.1dB/1dB /2dB /6dB 四檔調(diào)節(jié))

探測(cè)范圍： 0 ~ 10000mm(鋼中縱波)

聲速范圍： 0 ~ 10000m/s

水平線性誤差： ≤ 0.1%

垂直線性誤差： ≤ 3%

動(dòng)態(tài)范圍： ≥36dB

分辨力： ≥ 36dB

靈敏度余量： ≥ 62dB （深200mmφ2平底孔）