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型 Z-200 C+

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更新時間：2022-08-26 09:29:57瀏覽次數(shù)：246次

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上海集昊機電科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

相對于便攜式XRF，有更多的元素可以分析

詳細介紹

相對于便攜式XRF，有更多的元素可以分析。元素氫（H）到鈉（Na）可通過Z進行測量，但不能由便攜式XRF測定。這包括像碳，鋰，鈹，硼，鈉和其他關鍵元素。相比于便攜式XRF，由于該技術(shù)的光學性質(zhì)，Z在低得多的檢測下限可測量鎂，硅，鋁等元素。

一、特性

1、分析元素周期表中從 H 到 U 的所有元素，內(nèi)置 SciAps 的高分辨率光譜議。
   2、可選氬氣凈化技術(shù)：專用于分析波長小于 200nm 的元素，如 C 元素；可降低所有元素的檢測下限。
   3、源光源：1532nm 5mJ 激光激光安全等級：1 級（與投影用激光筆屬同一安全和等級）對眼睛不會產(chǎn)生危害 .
   4、1 秒出測試結(jié)果
   5、兩維可調(diào)節(jié)自動對焦激光束，激光束直徑 50uM ，自動求和并計算平均值
   6、內(nèi)置高清照相機及視頻成像系統(tǒng)，支持圖片文件保存樣品測試結(jié)果,選擇與查看精確聚焦激光測試點,精確定位特定測試的檢測點 ,Google 驅(qū)動！內(nèi)置安卓應用平臺，操作簡單，一看就會;其無線，藍牙，GPS 功能可與任何安卓系統(tǒng)設備如手機，平板同步信息,結(jié)實耐用！與手持 XRF 相比，*擺脫了對易損的硅 Pin 或硅漂移探測器的依賴

7、在元素分析及材料類型分析領域，激光誘導擊穿光譜(LIBS)分析儀提供一種能取代手持 X 射線熒光光譜儀及火花直讀光譜儀的技術(shù)。與光學火花發(fā)射光譜（OES)技術(shù)類似，在LIBZ 分析過程中, 高強度激光光斑(等離子體)在分析材料表面形成。待離子體冷卻后不同元素的特征光譜被LIBZ 捕捉到。不同長度的特征光代表了不同的元素，特定特征光的強度代表了特定元素的含量。

SciAps 很高興地向大家介紹Z 分析儀。Z 分析儀是一款采用 LIBZ 技術(shù)的手持式分析儀，其分析元素周期中低原子序號元素的能力可以與便攜式光學火花發(fā)射光譜儀媲美，同時又有手持式X射線分析儀一樣的便攜性。Z分析儀的主要特點：
        a) 激光源安全等級一級,操作時無需佩帶
      b) 高分辨率感光元件
        c) 極低的檢測下限

總結(jié):
Z分析儀是一款手持LIBS分析儀。Z 分析儀不但擁有手持式 X 射線分析儀分析過渡元素和重金屬元素的分析性能,而且擁有分析元素周期表中低原子序號元素和鋁合金的性能,且所有Z分析儀都不受X射線裝置的相關法律管制。