徠卡光學(xué)表面測(cè)量系統(tǒng) DCM8
具有更高的精確度和可重復(fù)性
您所查看的產(chǎn)品表面是否具有比較陡峭的坡度還是具有復(fù)雜的形貌?使用高清共聚焦顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)2納米的垂直分辨率。
您所查看的產(chǎn)品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑?可從以下三種干涉測(cè)量模式中選擇:垂直掃描干涉測(cè)量(VSI);
相移干涉測(cè)量(PSI)或者適用于分辨率高達(dá)0.1納米的擴(kuò)展相移干涉測(cè)量(ePSI)。如果您需要快速絢麗的高清二維圖像,
則Leica DCM8可提供明視場(chǎng)模式和暗視場(chǎng)模式。















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