儀器原理：

能量色散X熒光光譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點(diǎn)，將來自試樣的熒光X射線依次檢測(cè)，得到一系列幅度與光子能量成正比的脈沖，經(jīng)放大器放大后送到多道脈沖分析器。按脈沖幅度的大小分別統(tǒng)計(jì)脈沖數(shù)，脈沖幅度可以用X光子的能量標(biāo)度，從而得到計(jì)數(shù)率隨光子能量變化的分布曲線，即X光能譜圖。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.采用美國原裝電致冷高性能Si-PIN探測(cè)器，分辨率高，探測(cè)范圍寬,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規(guī)材料分析的基本要求。

2. 的DPP數(shù)字多道信號(hào)集成處理器，比普通模擬多道信號(hào)處理器性能更佳，尤其在高計(jì)數(shù)率時(shí)有更好的分辨力(如Hg和Cl等)，高達(dá)80MHz的數(shù)據(jù)傳輸速度使分析時(shí)間更短，測(cè)量重復(fù)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性更好。

3. 內(nèi)置高清攝像系統(tǒng)，清晰觀察樣品，準(zhǔn)確定位樣品測(cè)試區(qū)域。

4. 配套的FP測(cè)量軟件，集成多種譜圖處理算法和基體校正算法，有效降低儀器測(cè)量中的各種干擾譜峰，使低含量和痕量元素的檢測(cè)結(jié)果