主要功能
● 測量范圍寬，*小測量厚度，涂層20um，*大測量厚度1800mm；
● 高精度測厚，*高測量分辨率可達0.001mm；重復分辨率可達±0.002mm；
● A-掃描模式，B-掃描模式，數(shù)值顯示模式；
● 具有穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料；
● 根據材料聲速不同可以檢測部分復合材料上的涂層和和漆層，可以同時測量10個以上的多層材料各層厚度，同一回波下切換顯示各層厚度值；
● 多種測量：THIN，MB-E，E-E，Auto模式滿足對常規(guī)厚工件測量;THIN E-E模式對薄涂層測量；
● 數(shù)值模式包括常規(guī)厚度值模式、差值/縮減率模式和*值模式；
● 增益模式：自動增益/手動增益；
● 可設置手動關機與自動關機，帶節(jié)能功能；
● 可使用多種不同規(guī)格探頭，雙晶探頭和單晶探頭，*高支持20Mhz高頻探頭；
● 支持大容量存儲，可同時存儲10萬個厚度值，500組A掃描波形和500組B掃描波形；
● 具有多種校準方式，支持一點校準、多點校準和手動校準模式，可以同時校準聲速和探頭零位；支持V聲程校準。
● 公英制轉換；毫米和英寸可切換單位；
● 中文和英文顯示；
適用材料
測量金屬和非金屬（玻璃，復合材料，塑料，混凝土，木材等）基材上涂層厚度
適合測量金屬（如鋼、鑄鐵、鋁、銅等）、塑料、陶瓷、玻璃、樹脂、玻璃纖維及其他超聲波的良導體的厚度。
基本原理
采用脈沖反射超聲波測厚原理，適用于能使超聲波以一恒定速度在其里面?zhèn)鞑?，并能從其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂層厚度的測量。
規(guī)格參數(shù)
| 項目 | Fiedler200C |
| 探頭類型 | 單晶/雙晶 |
| 測量范圍 | 20um – 1800mm |
| 測量頻率 | 4Hz、8Hz、16Hz |
| 分辨率 | 0.1mm、0.01mm、0.001mm（0.01inch、0.001inch、0.0001inch） |
| 脈沖發(fā)生器 | 負方波發(fā)射，脈沖寬度和電壓自動與探頭進行匹配 |
| 聲速范圍 | 400-19999m/s |
| 校準試塊 | 4mm（鋼） |
| 自動關機 | 可選擇5分鐘，10分鐘，20分鐘，手動關機 |
| 探頭校準 | 一點校準、二點校準，手動校準 |
| 增益 | 自動增益、手動增益 |
| 增益范圍 | 0~80dB |
| 檢波方式 | 射頻RF、正半波POS、負半波NEG、全波FULL |
| 測量模式 | （1）THIN-EE:薄膜涂層模式（2）MB-E：發(fā)射脈沖始波至一次回波；（3）E-E：穿透涂層測量，可選任意Em– En回波；（4）THIN：薄壁測量模式 |
| 數(shù)值模式 | 厚度值模式、差值/縮減率模式、*大/*小值模式 |
| A-掃描模式 | 支持 |
| B-掃描模式 | 支持 |
| 耦合指示 | 支持 |
| 電量指示 | 支持 |
| 語言 | 中文/英文(English) |
| 單位 | 毫米/英寸 (mm/inch) |
| 菜單操作 | 支持 |
| 軟件功能 | 動態(tài)閘門設置、消隱設置(Blank)、回波消隱設置(E-Blank)、回波凍結、回波平移和縮放 |
| 存儲功能 | 同時支持10萬個厚度（100組，每組1000個），500組A掃描波形和500組B掃描波形 |
| 主機程序升級 | 支持主機程序升級 |
| 顯示屏 | 3.5寸真彩色屏 |
| 數(shù)據傳輸 | 支持USB通信，將數(shù)據傳輸至計算機 |
| 工作溫度 | -10℃～＋50℃，有特殊要求可達-20℃ |
| 工作電壓 | 三節(jié)5號 鋰離子電池，當電量不足時，有低電壓提示 |
| 外形尺寸 | 184 x 85 x 32 (mm) |
| 整機重量 | 250 g（不含電池） |
| 標準配置 | 主機1臺、涂層專用探頭一個 5號鋰電池3節(jié)，充電器一個，隨機文件1套，防震防水儀器箱1個 |
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