一 、功能與結(jié)構(gòu)特征概述

SZT-I型平行四刀法方阻測試臺(tái)
基本功能:SZT-I 型平行四刀法薄膜方阻刀形測試臺(tái),有四個(gè)平行刀型測試電極,配以四探針儀器,用以測試柔性半導(dǎo)體薄膜或金屬涂層薄膜方阻。
基本組成:成套測試臺(tái)有四個(gè)平行刀型測試電極、測試臺(tái)架、儀器連接線纜等部件組成。
配套與兼容:本測試臺(tái)兼容本公司所有四探針儀器,如下表主要型號,也可兼容其他大部分廠家四探針儀器。
ST2558A-F02 型薄膜方阻刀形測試臺(tái)適用產(chǎn)品部分型號及名稱列表
序號 | 型號 | 名稱 | 備注 |
1 | ST2558A | 多功能數(shù)字式方阻測試儀 | 柔性薄膜方阻測試專用 |
2 | ST2558B | 多功能數(shù)字式方阻測試儀 | 柔性薄膜方阻測試專用 |
3 | ST2258A | 多功能數(shù)字式方阻測試儀 | 柔性薄膜方阻測試專用 |
4 | ST2258B | 多功能數(shù)字式方阻測試儀 | 柔性薄膜方阻測試專用 |
5 | ST2253 | 數(shù)字式四探針測試儀 | 柔性薄膜方阻測試專用 |
二、主要技術(shù)參數(shù)及說明
1柔性薄膜方阻測試專用
2可測尺寸寬5~100mm,電壓刀距100mm,電流刀距130mm。
3磷銅探刀,接觸良好可靠
4 探刀為可快捷拆換型,方便生產(chǎn)線頻繁使用
5 本公司可為顧客長期代購探針配件,,服務(wù)周到
三、使用方式,請參照各配套測試臺(tái)使用方式。
四、:/ 丁先生




