STES 固體徑跡蝕刻系統(tǒng)是上海怡星機(jī)電設(shè)備有限公司推出的一款精密測量儀器,可實現(xiàn)對環(huán)境中的氡累積劑量、中子劑量進(jìn)行準(zhǔn)確的測量。適合環(huán)保、高校、核電、研究機(jī)構(gòu)等領(lǐng)域,同類產(chǎn)品中長期缺乏國產(chǎn)儀器的空白。
α粒子/中子轟擊探測器時,使其產(chǎn)生亞微觀型損傷徑跡,將此探測器在一定的條件下進(jìn)行化學(xué)蝕刻,擴(kuò)大損傷徑跡,以致能用顯微鏡或者計數(shù)裝置進(jìn)行讀出、計數(shù)。單位面積上的徑跡數(shù)與α粒子/中子和暴露時間的乘積成正比。用刻度系數(shù)可將徑跡密度換算成氡濃度/中子計數(shù)。
- 全自動讀取徑跡探測器信息,包括自動識別探測器編碼、自動測量探測器徑跡計數(shù)、自動識別有效徑跡、可自動對焦不同徑跡深度、標(biāo)記徑跡的位置
- 單次分析探測器數(shù)量:最多可讀取64片方形探測器(1cm×1cm)或可讀取16片圓形探測器(φ2.4cm)或可讀取 12cm×12cm 以內(nèi)自定義的形狀和大小探測器
- CCD相機(jī)自動成像,自動調(diào)焦,自動3D方向驅(qū)動定位
- 放大倍數(shù):≥100倍
- 徑跡識別能力:≥160 tracks/m2
- 徑跡分析區(qū)域:≥80mm2(1cm×1cm,CR39)
- 探測器分析時間:≤30s(1cm×1cm,CR39)
- 連續(xù)工作能力:≥150chips/h(1cm×1cm,CR39)
- 進(jìn)行二次分析和統(tǒng)計:最多對 32000 個視野圖片
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