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國產(chǎn)探針臺(tái)報(bào)價(jià)

參考價(jià)	面議

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱南京芯測軟件技術(shù)有限公司
品牌
型號(hào)
所在地南京市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2026/1/19 1:02:29
訪問次數(shù)42

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公司介紹主營產(chǎn)品

南京芯測軟件技術(shù)有限公司，專業(yè)打造半導(dǎo)體晶圓級(jí)測試及芯片檢測等系統(tǒng)集成平臺(tái)。公司致力為客戶提供半導(dǎo)體測試設(shè)備國產(chǎn)化改造，以及系統(tǒng)集成的一站式平臺(tái)服務(wù)。公司的目標(biāo)是成為國內(nèi)晶圓級(jí)在片測試，器件測量系統(tǒng)軟件、硬件的先進(jìn)供應(yīng)商，以滿足國內(nèi)用戶需求，開發(fā)半導(dǎo)體測試設(shè)備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務(wù)。

南京芯測的在專注于在片測試系統(tǒng)設(shè)備經(jīng)銷與晶圓在片測試軟件的研發(fā)。涉及的設(shè)備包括：手動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)、全自動(dòng)探針臺(tái)、硅光探針臺(tái)、射頻探針臺(tái)、高低溫探針臺(tái)、除此之外涉及經(jīng)銷芯片ESD測試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測設(shè)備等。我們服務(wù)的領(lǐng)域涵蓋半導(dǎo)體晶圓級(jí)在片測試、射頻微波器件測量，大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應(yīng)用行業(yè)

展開顯示更多內(nèi)容

探針臺(tái)，芯片ESD測試設(shè)備，TLP測試設(shè)備，CDM測試設(shè)備

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

大功率探針臺(tái),GP300探針臺(tái)讓您的芯片測試更加簡單，機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測量，提供芯片級(jí)I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案。

國產(chǎn)探針臺(tái)報(bào)價(jià) 產(chǎn)品信息

GP300探針臺(tái)12英寸手動(dòng)探針臺(tái)

GP300探針臺(tái)產(chǎn)品數(shù)據(jù)：

機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測量。
提供芯片級(jí)I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案。
優(yōu)異的三軸設(shè)計(jì)，保證I-V測試漏電精度達(dá)到fa等級(jí)。
多孔吸附式載物臺(tái)設(shè)計(jì)，更好地兼容薄晶圓固定。
高品質(zhì)顯微鏡搭配高分辨率CCD系統(tǒng)，可直觀了解扎針情況，提高扎針的準(zhǔn)確性和效率。
可升級(jí)的高低溫系統(tǒng)，為芯片提供更加成熟穩(wěn)定的老化測試環(huán)境。
緊湊且可靠的機(jī)械設(shè)計(jì)，更適用于芯片的測試及建模系統(tǒng)升級(jí)。
能夠根據(jù)未來需求，可提供多種升級(jí)模塊，輕松實(shí)現(xiàn)探針臺(tái)功能升級(jí)。
短軸式拉桿設(shè)計(jì)，將更加符合新一代芯片系統(tǒng)測試的需求。拉桿在任意位置可停留、極限位置能快速鎖定、分離位可固定，將進(jìn)一步防止誤操作，提高測試效率，節(jié)省成本。

高溫低漏電載物臺(tái).png