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日本全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備價(jià)格

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱南京芯測(cè)軟件技術(shù)有限公司
品牌
型號(hào)HED-G5000
所在地南京市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2026/1/19 12:59:10
訪問(wèn)次數(shù)91

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

南京芯測(cè)軟件技術(shù)有限公司，專(zhuān)業(yè)打造半導(dǎo)體晶圓級(jí)測(cè)試及芯片檢測(cè)等系統(tǒng)集成平臺(tái)。公司致力為客戶提供半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備國(guó)產(chǎn)化改造，以及系統(tǒng)集成的一站式平臺(tái)服務(wù)。公司的目標(biāo)是成為國(guó)內(nèi)晶圓級(jí)在片測(cè)試，器件測(cè)量系統(tǒng)軟件、硬件的先進(jìn)供應(yīng)商，以滿足國(guó)內(nèi)用戶需求，開(kāi)發(fā)半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務(wù)。

南京芯測(cè)的在專(zhuān)注于在片測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備經(jīng)銷(xiāo)與晶圓在片測(cè)試軟件的研發(fā)。涉及的設(shè)備包括：手動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)、全自動(dòng)探針臺(tái)、硅光探針臺(tái)、射頻探針臺(tái)、高低溫探針臺(tái)、除此之外涉及經(jīng)銷(xiāo)芯片ESD測(cè)試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測(cè)設(shè)備等。我們服務(wù)的領(lǐng)域涵蓋半導(dǎo)體晶圓級(jí)在片測(cè)試、射頻微波器件測(cè)量，大功率器件測(cè)試、微組裝封裝工藝檢測(cè)、失效分析、材料測(cè)試等應(yīng)用行業(yè)

展開(kāi)顯示更多內(nèi)容

探針臺(tái)，芯片ESD測(cè)試設(shè)備，TLP測(cè)試設(shè)備，CDM測(cè)試設(shè)備

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

Hanwa ESD HED-G5000 全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備近年來(lái)，自動(dòng)駕駛技術(shù)逐漸成為T(mén)ier1汽車(chē)電子智能系統(tǒng)的技術(shù)，解決自動(dòng)駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于提升自動(dòng)駕駛芯片的可靠性，保障汽車(chē)運(yùn)行中的安全。目前國(guó)內(nèi)尚未有關(guān)于汽車(chē)芯片可靠性的標(biāo)準(zhǔn)，而是基于國(guó)際AEC-Q100系列標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行汽車(chē)芯片可靠性測(cè)試，其中一環(huán)節(jié)就是要對(duì)汽車(chē)芯片進(jìn)行CDM和HBM的靜電相關(guān)測(cè)試。

日本全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備價(jià)格產(chǎn)品信息

日本Hanwa-HED-G5000全自動(dòng)HBM/MM/Latch-up測(cè)試機(jī)、HANWA ESD測(cè)試機(jī)

全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品概要：

HANWA新一代G5000系列ESD 全自動(dòng)靜電破壞檢測(cè)機(jī)已上市，搭載多Pin腳無(wú)繼電器的GND模組（Z高支持MAX2048pin），全不受寄生電容的影響，實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè)。此設(shè)備是符合日本及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備（滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格）可用于閂鎖測(cè)試，并適用脈沖電流法·電源過(guò)電壓·ESD脈沖印加法。汽車(chē)電子AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)，車(chē)規(guī)級(jí)集成電路可靠性靜電HDM/CDM測(cè)試。

技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

1、適應(yīng)以下國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA。
2、該系統(tǒng)特別的短路放電電路可通過(guò)其原始機(jī)械設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)。
3、短路Z大限度地減少電感和電容對(duì)數(shù)據(jù)的影響。
4、使用單個(gè)電路可確保每個(gè)器件引腳的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。

全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備主要應(yīng)用：

芯片靜電破壞自動(dòng)測(cè)定裝置。