時尚外觀、防滑設(shè)計(jì)

小巧輕薄、攜帶方便

前面板一體化設(shè)計(jì)-防水、防油、防塵

按鍵采用輕觸無沖、全點(diǎn)亮設(shè)計(jì)

無極支撐設(shè)計(jì)，手托可自由拆卸

的方波激勵信號處理技術(shù)

產(chǎn)品概述：

SF730--將三豐科技多年的超聲經(jīng)驗(yàn)和專家級技術(shù)融合到一臺便攜式探傷儀中，采用的方波激勵信號處理技術(shù)，利用人體工程的優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)單手操作。

性能特點(diǎn)：

操作簡易,按鍵定義明確，實(shí)現(xiàn)單手握持操作。

波形顏色顯示不同，區(qū)分一次波、二次波。

根據(jù)環(huán)境選擇背景色，亮度可自由設(shè)定，強(qiáng)光、弱光環(huán)境，清晰顯示。

高壓方波發(fā)射、穿透力強(qiáng)，滿足大型鑄、鍛件探傷的需求。

寬頻帶高分辨率，檢出率高

發(fā)射電壓、探頭阻尼、脈沖寬度、濾波頻帶、重復(fù)頻率可調(diào)，適用于不同材料，不同厚度工件的精準(zhǔn)探傷。

自由設(shè)置幅度值，使閘門內(nèi)回波自動調(diào)節(jié)到幅度，提高檢測速度。

SD卡存儲設(shè)計(jì)，全程、連續(xù)、動態(tài)、大容量實(shí)時記錄檢測回波、數(shù)據(jù)

自動增益，配合峰值回波、圖像凍結(jié)功能，快速確定缺陷波，探傷更高效

波峰記憶：實(shí)時檢索缺陷波，標(biāo)定缺陷值

實(shí)用AVG：實(shí)用AVG曲線、自動換算缺陷φ值(3N外)

裂紋測高：找準(zhǔn)缺陷波，實(shí)時衍射法測高

缺陷定位：實(shí)顯水平值L、深度值H、聲程值S

缺陷定量：實(shí)顯SL定量值

缺陷定性：通過包絡(luò)波形，人工經(jīng)驗(yàn)判斷

曲面修正：曲面工件探傷，修正曲率換算

距離補(bǔ)償：厚工件遠(yuǎn)距離探傷實(shí)時補(bǔ)償，避免漏檢小缺陷

B型掃描：實(shí)時掃查，描述缺陷橫切面

RF（射頻）回波功能：對于薄壁材料測量或?qū)W術(shù)研究和定性分析有很大幫助

門內(nèi)展寬：可將閘門內(nèi)回波區(qū)域放大到整個屏幕顯示，便于觀察到某一回波區(qū)域的細(xì)節(jié)。

VGA接口，無縫對接投影儀。

存儲數(shù)據(jù)無需主機(jī)與電腦連接后安裝驅(qū)動，只需通過U盤便將儀器內(nèi)數(shù)據(jù)快速導(dǎo)出。

內(nèi)置AWS D1.1/D1.5、API 5UE評價標(biāo)準(zhǔn)

技術(shù)參數(shù)：

通道數(shù)： 100組通道

工作頻率： 0.5 ~ 20MHz

總增益量： 110dB(分0.1dB/1dB /2dB /6dB 四檔調(diào)節(jié))

探測范圍： 0 ~ 10000mm(鋼中縱波)

檢波方式：數(shù)字檢波

衰減器精度：<+1dB/12dB

波形顯示方式：射頻波，檢波 (全波、負(fù)或正半波)

聲速范圍： 0 ~ 15000m/s

水平線性誤差： ≤ 0.1%

垂直線性誤差： ≤ 3%

動態(tài)范圍： ≥ 40dB

分辨力： ≥ 38dB（5N14）

靈敏度余量： ≥ 65dB （深200mmφ2平底孔）

數(shù)字抑制： （0 ~ 80）% ，不影響線性與增益

顯示屏： 5.7"高亮彩色TFT顯示屏(640×480)

電源： 直流15V；交流220V

環(huán)境溫度： （-20 ~ 50）℃（參考值）

相對濕度：（20～95）% RH

工作時間：連續(xù)工作8小時以上（鋰電池供電）

外型尺寸： 228×140×45（高×寬×厚）

重量： 1kg(含電池)