應(yīng)用領(lǐng)域
iEDX-150T鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用于金屬電鍍鍍層分析領(lǐng)域;
技術(shù)指標(biāo)
多鍍層分析,1~5層;
測(cè)試精度:0.001 μm;
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U);
測(cè)量時(shí)間:10~30秒;
SDD探測(cè)器,能量分辨率為125±5eV;
探測(cè)器Be窗0.5mil(12.7μm);
微焦X射線管50kV/1mA,鉬,銠靶(高配微焦鉬靶);
6個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片自動(dòng)切換;
XYZ三維移動(dòng)平臺(tái),MAX荷載為5公斤;
高清CCD攝像頭(200萬像素),準(zhǔn)確監(jiān)控位置;
多變量非線性去卷積曲線擬合;
高性能FP/MLSQ分析;
儀器尺寸:618×525×490mm;
樣品臺(tái)尺寸:250×220mm;
樣品臺(tái)移動(dòng)范圍:前后左右各80mm、高度90mm。
圖譜界面
軟件支持無標(biāo)樣分析;
寬大分析平臺(tái)和樣品腔;
集成了鍍層分析界面和合金成份分析界面;
采用多種光譜擬合分析處理技術(shù);
鍍層測(cè)厚分析精度可達(dá)到0.001μm。
分析報(bào)告結(jié)果
直接打印分析報(bào)告;
報(bào)告可轉(zhuǎn)換為PDF,EXCEL格式。
樣品分析圖譜:

測(cè)試結(jié)果界面:






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