TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統(tǒng)，采用智能光學(xué)跟蹤測(cè)量技術(shù)，配備高品質(zhì)光學(xué)設(shè)備，無(wú)需貼點(diǎn)即可完成超高精度動(dòng)態(tài)三維測(cè)量，可應(yīng)用于質(zhì)量控制、產(chǎn)品開(kāi)發(fā)、逆向工程等多個(gè)方面。
基于不同的掃描場(chǎng)景需求;
TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統(tǒng) 可自由切換多種工作模式。34束交叉藍(lán)色激光超快掃描，高效靈活；7束平行藍(lán)色激光精細(xì)掃描，細(xì)節(jié)；單束藍(lán)色激光掃描，迅速獲取深孔及死角位置三維數(shù)據(jù)。
TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統(tǒng) 可搭配便攜式CMM測(cè)量光筆T-Probe，可精準(zhǔn)獲取工件縫隙、孔位、凹槽等復(fù)雜處的高精密點(diǎn)云數(shù)據(jù)。還可以提供開(kāi)發(fā)接口，與機(jī)器人協(xié)同工作，實(shí)現(xiàn)智能在線批量自動(dòng)化三維檢測(cè)。

TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統(tǒng) 基于不同的掃描場(chǎng)景需求，TrackScan-P42可自由切換多種工作模式。 34束交叉藍(lán)色激光超快掃描，高效靈活；7束平行藍(lán)色激光精細(xì)掃描，細(xì)節(jié)；單束藍(lán)色激光掃描，迅速獲取深孔及死角位置三維數(shù)據(jù)。
	TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統(tǒng) TrackScan-P42可搭配便攜式CMM測(cè)量光筆T-Probe，可精準(zhǔn)獲取工件縫隙、孔位、凹槽等復(fù)雜處的高精密點(diǎn)云數(shù)據(jù)。還可以提供開(kāi)發(fā)接口，與機(jī)器人協(xié)同工作，實(shí)現(xiàn)智能在線批量自動(dòng)化三維檢測(cè)。
無(wú)需貼點(diǎn) 智能追蹤 基于智能光學(xué)跟蹤測(cè)量技術(shù)，TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統(tǒng)無(wú)需貼點(diǎn)，即刻掃描，大幅提升工作效率、降低人力物力成本
極速高效 無(wú)懼細(xì)節(jié) 34束交叉藍(lán)色激光超快掃描，掃描速度1,900,000次測(cè)量/秒，7束平行藍(lán)色激光精細(xì)掃描，細(xì)節(jié)，單束藍(lán)色激光掃描，迅速獲取深孔及死角位置三維數(shù)據(jù)
適應(yīng)力 環(huán)境感知度 輕松獲取光亮、黑色材質(zhì)物體三維數(shù)據(jù)；不易受環(huán)境、震動(dòng)、溫度等外界因素影響
無(wú)線光筆 測(cè)量不局限 便攜式CMM測(cè)量光筆T-Probe，單點(diǎn)重復(fù)性0.030 mm，用于獲取基準(zhǔn)孔、隱藏點(diǎn)等關(guān)鍵
動(dòng)態(tài)參考 實(shí)時(shí)追蹤 利用動(dòng)態(tài)參考功能，TrackScan-P42能在E-Track或物體移動(dòng)中正常工作，并實(shí)時(shí)獲取物體完整三維數(shù)據(jù)
測(cè)量范圍自由擴(kuò)展 通過(guò)調(diào)整E-Track光學(xué)跟蹤器的位置，可對(duì)測(cè)量范圍自由靈活地?cái)U(kuò)展，且始終保持穩(wěn)定的高精度
復(fù)合定位 精準(zhǔn)捕捉 支持光學(xué)跟蹤和標(biāo)記點(diǎn)跟蹤兩種模式，可根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)工作情況靈活切換
航空航天級(jí)碳纖維材質(zhì) TrackScan-P42掃描儀采用一體式結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，航空航天級(jí)碳纖維材料，超乎想象的堅(jiān)固耐用