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新一代高分辨輝光放電質(zhì)譜儀--GD90 Trace

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公司名稱北京眾星聯(lián)恒科技有限公司
品牌
型號GD90Trace
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時間2023/6/10 14:23:38
訪問次數(shù)313

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公司介紹主營產(chǎn)品

在專業(yè)、敬業(yè)、拼搏的理念指導(dǎo)下，不斷進取學(xué)習(xí)，時刻關(guān)注科學(xué)領(lǐng)域的發(fā)展和創(chuàng)新，北京眾星聯(lián)恒科技有限公司致力于引進的EUV/SXR/X射線產(chǎn)品、及新孵化產(chǎn)品給中國的同步輻射，研究所，高校及制造業(yè)的客戶。我司是德國INCOATEC公司、美國XOS（光學(xué)組件）、德國X-SPECTRUM、德國GREATEYES、德國Microworks、捷克ADVACAM、及英國MSI輝光放電質(zhì)譜儀的中國區(qū)總代理，產(chǎn)品線包含X射線源、EUV/SXR/X射線光學(xué)元件、EUV/SXR/X射線探測器、X射線分析系統(tǒng)和輝光光放電質(zhì)譜儀等。我司同時致力于給客戶提供x射線解決方案，并于2016年推出了具有自主知識產(chǎn)權(quán)的桌面超快X射線診斷裝置，具有超微、超亮、高信噪比和高穩(wěn)定性的特點，在物質(zhì)超快過程研究、精細分辨成像等方面具有重要的應(yīng)用價值。我們堅持以客戶需求為導(dǎo)向，以專業(yè)、專注為根本，以高效服務(wù)為核心，緊密跟進學(xué)科的發(fā)展，努力從客戶處學(xué)習(xí)并豐富*自己的技術(shù)儲備，解決客戶的實際需求，以前沿技術(shù)驅(qū)動的創(chuàng)新獲取公司發(fā)展的空間，逐步成長為優(yōu)秀的X射線領(lǐng)域及的材料分析系統(tǒng)方案提供商。我們敬畏知識不斷進步所帶來的變化和革新，堅信：高品質(zhì)的產(chǎn)品及優(yōu)質(zhì)的服務(wù)是獲得客戶認可的標準！

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新一代高分辨輝光放電質(zhì)譜儀--GD90 Trace 產(chǎn)品信息

公司介紹：

英國質(zhì)譜儀器有限公司（MSI）是一家專業(yè)性很強的公司，專門從事高性能磁性行業(yè)雙聚焦質(zhì)譜儀的設(shè)計，旨在滿足有機和無機分析市場的需求。它繼承了Kratos Analytical的技術(shù)，該技術(shù)是1957年引入商業(yè)質(zhì)譜儀的。從那時起，對高精度，高分辨率儀器的需求呈指數(shù)增長。在MSI，我們通過投資于新的開發(fā)和應(yīng)用，正在將這項技術(shù)提升到新的水平方面取得了巨大的進步。

產(chǎn)品介紹：

GD90 Trace 具有成熟的光學(xué)平臺和*穩(wěn)定的電子控制系統(tǒng)。基于高性能MSI AutoConcept的離子光學(xué)系統(tǒng)，實現(xiàn)高穩(wěn)定性、超低檢測限，使GD90 Trace性能優(yōu)于其他同類儀器。

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

離子源系統(tǒng)

更耐用的真空自動閥門，可確保50,000+ 樣品的檢測
自動抽氣，無損傷離子源渦輪泵的風(fēng)險且可防止閥門意外關(guān)閉
增加過濾器，進一步降低氣體背景噪聲
可選配干燥氣體通風(fēng)裝置，更快達到更低的氣體背景噪聲

探測系統(tǒng)

直接離子計數(shù)倍增器，減小背景噪聲。電子倍增器和法拉第杯的快速切換，可提供高達1012的線性動態(tài)范圍
碰撞過濾器，提升豐度靈敏度
選配第二電子倍增器，備用熱抽拔式離子計數(shù)器、短壽命放射性同位素的離子計數(shù)器。用于深度剖析的快速分析探測器

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

電子系統(tǒng)

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

離子源高壓模塊

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

真空控制模塊

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

分析器高壓模塊

磁鐵控制器模塊

優(yōu)勢：

更少的接線

更簡易的故障診斷

更容易更換

更現(xiàn)代化的DACs和ADCs 增加穩(wěn)定性

更低的能耗

更多的靈活性

系統(tǒng)可在線更新

GD90 Trace 主要特點

1. 易于清洗的高純鉭放電池及離子源結(jié)構(gòu)

2. 有效的低溫制冷，將氣體背景降至

3. 同時配備了針狀和塊狀樣品池

4. 對輕/重元素?zé)o質(zhì)量偏差

5. 使用180Ta 和 181Ta來快速檢查電子倍增器和法拉第杯，確保響應(yīng)的一致性

6. 在需要更換其他惰性氣體情況（例如氪），低氣體流速更節(jié)省成本

7. 可分析不同形態(tài)的合金、高純樣品（導(dǎo)體和非導(dǎo)體）

8. 低濺射速率—常規(guī)分析條件下濺射速率從100nm/min（非導(dǎo)體）到150nm/min（導(dǎo)體）；需要更低條件時可讓濺射速率再降低至少5倍。

9. RSFs和檢測限來源于已發(fā)表和易溯源的方法

10. 前端裝置可根據(jù)用戶需要專門定制手套箱用于核材料的應(yīng)用

GD90 Trace 作為高分辨雙聚焦輝光放電質(zhì)譜儀，可在單次掃描實現(xiàn)從主量元素（wt%）到超痕量元素（ppb 到亞 ppb）的全元素分析。GD90 Trace 的離子源和分析器由全不銹鋼構(gòu)成。

分辨率	連續(xù)可調(diào)
背景噪聲	＜0.5cps
分析器真空	<2x10^-7mbar
基體電流	>5 x10^-10 amps（Cu 樣品，在分辨率 > 4000 時的總Cu 信號） >1.5 x1 0^-11amps (使用RF源，SiO2玻璃樣品）
信號強度穩(wěn)定性	<3% RSD (Cu 樣品，分辨率>4000，10 分鐘內(nèi)重復(fù) 5 次測量) <5% RSD (Cu 樣品，分辨率>4000，30 分鐘內(nèi)重復(fù) 15 次測量)
譜峰穩(wěn)定性	<30ppm (Cu 樣品，分辨率>4000，對⁶³Cu 進行30分鐘測量）
質(zhì)量穩(wěn)定性	<100ppm (¹²C 到 ¹⁸¹Ta)
離子計數(shù)效率	＞70%（相對于法拉第杯）
豐度靈敏度	<200ppb（Cu 樣品，分辨率>4000, ⁶²Cu 相對 ⁶³Cu）
內(nèi)部重復(fù)性	主量成份< 3%RSD 次量成份< 5%RSD 痕量成份<10%RSD
外部重復(fù)性	主量成份< 5% RSD 次量成份< 10%RSD 痕量成份<20%RSD