VIHENT 工業(yè)檢測顯微鏡專為工業(yè)、電子、儀器行業(yè)等大面積樣本觀察設(shè)計(jì)。
·精確成像,色彩還原度高——VIHENT NX1000 系列工業(yè)檢測顯微鏡采用經(jīng)過多年研究和不斷改良的NIS 無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),具有工作距離長,色差矯正能力強(qiáng),成像銳利等優(yōu)秀的光學(xué)品質(zhì)。
·專為工業(yè)大面積觀察需求設(shè)計(jì)——大面積觀察需要更大的操作平臺,VIHENT NX1000 系列顯微鏡采用12 寸超大載物臺,滿足FPD及LSI 的檢測。同時(shí),加入離合器平臺手柄及物鏡轉(zhuǎn)換等人性化部件,極大的降低了長時(shí)間顯微操作帶來的疲勞。
·模塊化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)觀察方法的多樣性——VIHENT NX1000 系列工業(yè)檢測顯微鏡采用模塊化設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)明場、暗場、微分干涉、熒光、偏光等觀測方法。是半導(dǎo)體器件、FPD
常規(guī)應(yīng)用 ·大面積工業(yè)、電子行業(yè)樣本
·FPD、LSI 樣本
·化工、儀器行業(yè)的選材、檢驗(yàn)、工藝評定、失敗分析和工藝研究
柯勒照明 的顯微照明系統(tǒng)-- 柯勒照明,提供明亮均勻的視場。配合無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)NIS45 和高數(shù)值孔徑和長工作距離的物鏡,給您提供的顯微成像。

NIS45 系列物鏡

NIS45 系列物鏡
采用多層鍍膜技術(shù),能夠補(bǔ)償球差及從紫外到近紅外的色差。保證了圖像的銳度、清晰度和色彩還原性。使所有倍率都能獲得高分辨率和平坦的圖像。

顯微操作面板位于顯微鏡正面

顯微操作面板位于顯微鏡正面
顯微觀察經(jīng)常使用的控制機(jī)構(gòu)位于顯微鏡正面(靠近操作者)。方便您觀察樣本時(shí)可以更快更方便的對顯微鏡進(jìn)行操作。減少長時(shí)間觀察帶來的疲勞及大幅度動作帶來的浮塵。

可變傾角三目觀察頭
可調(diào)節(jié)傾斜角度的觀察頭,可以在更舒適的姿勢下進(jìn)行操作。限度的減少長時(shí)間工作帶來的肌肉緊張與不適。

低手位調(diào)焦機(jī)構(gòu)及平臺微調(diào)機(jī)構(gòu)
調(diào)焦機(jī)構(gòu)及平臺微調(diào)機(jī)構(gòu)采用低手位設(shè)計(jì),符合人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì),給予您的舒適感。

內(nèi)置離合器平臺手柄調(diào)焦機(jī)構(gòu)及平臺微調(diào)機(jī)構(gòu)采用低手位設(shè)計(jì),符合人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì),給予您的舒適感。

可實(shí)現(xiàn)載物平臺的快速與慢速兩種移動方式,能夠?qū)Υ竺娣e樣本進(jìn)行快速定位。與平臺微調(diào)手柄配合使用,使精確快捷定位樣本不再困難。

內(nèi)置控制面板
科研級顯微鏡通過模塊化的組合,能實(shí)現(xiàn)多種觀察方式:明場、暗場、相襯、熒光、偏光、DIC 等。
內(nèi)置控制面板
將特定按鈕設(shè)定為與特定物鏡產(chǎn)生對應(yīng)關(guān)系,只需輕輕一按即可輕松改變放大倍率。

超大載物平臺

超大載物平臺
微電子及半導(dǎo)體樣本往往面積較大,普通的金相顯微鏡平臺不能滿足它們的觀察需求。NX1000 擁有超大的載物平臺和超大的移動范圍,并且移動方便快捷。是大面積工業(yè)樣本顯微觀察的理想工具。

防靜電保護(hù)罩

防靜電保護(hù)罩
工業(yè)樣本往往懼怕浮塵,些許浮塵就會影響產(chǎn)品品質(zhì)及檢驗(yàn)結(jié)果。NX000 擁有大面積的防靜電保護(hù)罩,杜絕浮塵與落塵。保護(hù)樣本,使檢驗(yàn)結(jié)果更精確。

較長工作距離及高NA 物鏡

較長工作距離及高NA 物鏡
各種電子元件及半導(dǎo)體等使電路板樣本有較大的高低落差。所以在此顯微鏡上采用擁有較長工作距離的專用物鏡。同時(shí)為了滿足工業(yè)樣本對色彩還原度的高要求,采用經(jīng)過多年研發(fā)和改進(jìn),采用多層鍍膜技術(shù),具備高NA 的復(fù)消色差物鏡,還原樣本真實(shí)色彩。

落射明場
NX1000 采用優(yōu)秀的NIS 無線遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)。視場均勻,明亮,色彩還原度高。適合觀察半導(dǎo)體等不透明樣本。

暗場
透射明場
暗場
可實(shí)現(xiàn)明亮的暗場觀察,可以對細(xì)小劃痕等缺陷進(jìn)行高靈敏度的檢測。適合對高要求的樣本進(jìn)行的表面檢測。


對于透明的樣本,如FPD、光學(xué)元件等,可通過投射光聚光鏡實(shí)現(xiàn)明場觀察。同時(shí)也可搭配DIC、簡易偏光等附件使用。

簡易偏光
圖像處理系統(tǒng)
簡易偏光
此觀察方法適合具有雙折射性質(zhì)的標(biāo)本,如金相組織、礦物、LCD和半導(dǎo)體材料。

落射DIC

落射DIC
用于觀察精密模具中的細(xì)小差異。該觀察技術(shù)可以將普通觀察中無法看到的細(xì)微高度差異,用浮雕和三維圖像的形式表達(dá)出來。


·軟件功能多樣,滿足您不同圖像處理與分析需求。
·多種攝像頭可供選擇,提供優(yōu)質(zhì)的顯微拍攝方案。
·通用USB3.0 接口,可提供高速的圖像傳輸。
圖像拼接 NOMIS Basic 通過實(shí)時(shí)采集圖像或?qū)雸D像,可以快速將小幅圖像進(jìn)行拼接,形成一幅大尺寸、高分辨率的圖像。

實(shí)時(shí)/ 靜態(tài)測量
景深融合/3D 重建
實(shí)時(shí)/ 靜態(tài)測量
典型觀測和質(zhì)量控制需要交互式的測量功能,例如:距離,角度,矩形,圓形和橢圓。
高清實(shí)時(shí)HDR 圖像/視頻
高清實(shí)時(shí)HDR 圖像/視頻
當(dāng)觀測不同的樣本時(shí),樣本表面會顯示出高對比度的區(qū)域。HDR 使用戶在點(diǎn)擊之間完成曝光圖像的生成。


NOMIS Basic 提供景深融合和3D 重建功能。

技術(shù)參數(shù)





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